1、引言

 

隨著電子技術(shù)的發(fā)展，器件的噪聲系數(shù)越來越低，放大器的動態(tài)范圍也越來越大，增益也大有提高，使得電路系統(tǒng)的靈敏度和選擇性以及線性度等主要技術(shù)指標(biāo)都得到較好的解決。同時，隨著技術(shù)的不斷提高，對電路系統(tǒng)又提出了更高的要求，這就要求電路系統(tǒng)必須具有較低的相位噪聲，在現(xiàn)代技術(shù)中，相位噪聲已成為限制電路系統(tǒng)的主要因素。低相位噪聲對于提高電路系統(tǒng)性能起到重要作用。

 

相位噪聲好壞對通訊系統(tǒng)有很大影響，尤其現(xiàn)代通訊系統(tǒng)中狀態(tài)很多，頻道又很密集，并且不斷的變換，所以對相位噪聲的要求也愈來愈高。如果本振信號的相位噪聲較差，會增加通信中的誤碼率，影響載頻跟蹤精度。相位噪聲不好，不僅增加誤碼率、影響載頻跟蹤精度，還影響通信接收機(jī)信道內(nèi)、外性能測量，相位噪聲對鄰近頻道選擇性有影響。如果要求接收機(jī)選擇性越高，則相位噪聲就必須更好，要求接收機(jī)靈敏度越高，相位噪聲也必須更好。

 

總之，對于現(xiàn)代通信的各種接收機(jī)，相位噪聲指標(biāo)尤為重要，對于該指標(biāo)的精準(zhǔn)測試要求也越來越高，相應(yīng)的技術(shù)手段要求也越來越高。

 

2、相位噪聲基礎(chǔ)

 

2.1、什么是相位噪聲

 

相位噪聲是振蕩器在短時間內(nèi)頻率穩(wěn)定度的度量參數(shù)。它來源于振蕩器輸出信號由噪聲引起的相位、頻率的變化。頻率穩(wěn)定度分為兩個方面：長期穩(wěn)定度和短期穩(wěn)定度，其中，短期穩(wěn)定度在時域內(nèi)用艾倫方差來表示，在頻域內(nèi)用相位噪聲來表示。

 

2.2、相位噪聲的定義

 

IEEE standard 1139-1988：以載波的幅度為參考，在偏移一定的頻率下的單邊帶相對噪聲功率。這個數(shù)值是指在1Hz的帶寬下的相對噪聲電平，其單位為dBc/Hz。該定義最早是基于頻譜儀法測試相位噪聲，不區(qū)分調(diào)幅噪聲和調(diào)相噪聲。

 

 

IEEE standard 1139-1999：單邊帶相位噪聲L(f)定義為隨機(jī)相位波動單邊帶功率譜密度Sφ(f)的一半，其單位為dBc/Hz。其中Sφ(f)為隨機(jī)相位波動φ(t)的單邊帶功率譜密度，其物理量綱是rad2/Hz。 該定義基于鑒相器法測量相位噪聲，使載波降頻變換為接近直流，高噪聲下，會引起L(f)和Sφ(f)之間顯著的差異。

 

 

3、CW信號相位噪聲的測試原理及方法

 

3.1、頻譜儀測試法

 

3.1.1、直接頻譜分析(Marker Function)

 

該方法按照相位噪聲的基本定義，首先測量中心載波的信號功率，然后測量某一頻偏處噪聲功率，最后做計(jì)算即可得到相位噪聲值。

 

 

3.1.2、頻譜儀自動測試(Phase Noise)

 

該方法還是基于頻譜儀測試載波功率和噪聲功率，但是可以自動進(jìn)行測試，并顯示出完整的測試曲線，頻偏范圍可以自由設(shè)定，操作簡便快捷，精準(zhǔn)度比頻譜儀直接測試法要高，測試速度要快。

 

 

總之，頻譜儀法測試相位噪聲均基于頻譜測試的結(jié)果進(jìn)行相位噪聲的計(jì)算，該測試法無法區(qū)分調(diào)幅噪聲和相位噪聲，靈敏度受儀器固有的相位噪聲限制，無載波抑制，測量范圍受分辨率濾波器形狀因子限制，動態(tài)范圍有限等缺點(diǎn);但是，該方法測試設(shè)置簡單、快捷，頻率偏移范圍大，可測試很多信號源的特性，比如：雜散發(fā)射、鄰信道功率泄漏、高次諧波;并且可以直接顯示相位噪聲曲線(當(dāng)調(diào)幅噪聲忽略不計(jì)時)。

 

3.2、鑒相器測試法

 

3.2.1、鑒相器測試原理

 

鑒相器法是采用被測信號源與一同頻參考信號源進(jìn)行鑒相，鑒相器輸出信號經(jīng)低通濾波器和低噪聲放大器后輸入到頻譜儀或接收機(jī)中。

 

 

鑒相器輸入信號兩路正交信號：

 

 

鑒相器的輸出信號UIF(t)：

 

 

經(jīng)低通濾波，并假定ƒL= ƒR ，得到：

 

 

對于小的相差， 簡化得到：

 

 

3.2.2、延遲線測試法

 

延遲線法是把被測信號分成兩路，一路信號經(jīng)過延遲線后與另一路經(jīng)過一個移相器移相后的信號進(jìn)行鑒相，然后再濾波放大分析。延遲線的作用是將頻率的變化轉(zhuǎn)化為相位的變化，當(dāng)頻率變化時，將在延遲線中引起相位正比例的變化。雙平衡混頻器將相位變化轉(zhuǎn)化為電壓變化。

 

 

該測試方法具有載波抑制、調(diào)幅噪聲測試功能，測試時不需要額外的參考源，不需要信號同步，頻率漂移不再是問題。但是該測試方法高頻時損耗較大，使得測試靈敏度較低，而且測試時需要校準(zhǔn)，操作較為復(fù)雜。

 

3.2.3、鎖相環(huán)測試法

 

由于振蕩器的相位跳動，90度的相位偏移并不能時刻穩(wěn)定。因此需要引入鎖相環(huán)路對相位進(jìn)行鎖定，以保證兩路信號相位穩(wěn)定的相差90度。

 

 

由于鎖相環(huán)路的引入會對相位噪聲測量帶來影響，在環(huán)路帶寬內(nèi)，振蕩器的相位噪聲將會被改善，因此在測量過程中需要對環(huán)路帶寬內(nèi)的相位噪聲進(jìn)行修正。通過鎖相環(huán)的環(huán)路帶寬特性，可以計(jì)算出環(huán)路增益，從而可以對測量結(jié)果進(jìn)行修正。

 

鑒相器法測試相位噪聲具有很多優(yōu)點(diǎn)。

 

其中一個重要優(yōu)點(diǎn)是鑒相后信號的載波被抑制，接收機(jī)的中頻增益與載波電平無關(guān)，因此可以大大提高相位噪聲的測試靈敏度。另外，可以采用低噪聲放大器對鑒相后的信號進(jìn)行放大，從而可以降低測量接收機(jī)的噪聲系數(shù)，從而進(jìn)一步提高其測試靈敏度。

 

同時，對于信號中同時存在的AM噪聲和相位噪聲?？梢酝ㄟ^調(diào)整兩路信號的相位差，使鑒相器可以分辨AM噪聲和相位噪聲。如果兩路鑒相信號相位相差90°，則鑒相后輸出對AM噪聲的抑制可以高達(dá)40dB，當(dāng)兩路鑒相信號相位相差 0° 時，則輸出結(jié)果僅有AM噪聲。

 

該測試方法的另一優(yōu)點(diǎn)是，相位噪聲的測試不在受參考源的限制，因?yàn)榭梢赃x擇非常好的相位噪聲的源作為測量的參考。

 

該測試方法還可以采用雙DUT法進(jìn)行相位噪聲的測量，當(dāng)存在兩個相同的高性能被測信號源時可以采用該方法，測量結(jié)果需要做3dB的修正。

 

但是，對于該測試方法也有相應(yīng)的局限性，該方法設(shè)置相對復(fù)雜，測量前有時需要做測試校準(zhǔn)和PLL參數(shù)計(jì)算;相對頻譜儀方法來說，鑒相器法的測量頻偏范圍較窄。同時，由于信號源特性除了相位噪聲指標(biāo)外，還需要測量如諧波特性，雜散特性，鄰信道抑制比等指標(biāo)，而該方法則無法完成這些測量，還需要用頻譜儀功能來實(shí)現(xiàn)。

 

3.3、數(shù)字相位解調(diào)測試法

 

針對以上測試方法的不足，目前最新的相位噪聲測試的方法為數(shù)字相位解調(diào)法。該測試方法可以直接進(jìn)行I/Q解調(diào)測量, 轉(zhuǎn)換為Sf(f), 再計(jì)算L(f)。數(shù)字相位解調(diào)法無鑒相器和鎖相環(huán)，所以不需要進(jìn)行環(huán)路帶寬修正，可以簡化校準(zhǔn)過程。該測試方法可以測量CW相位噪聲，脈沖相位噪聲，附加相位噪聲，脈沖附加相位噪聲等多項(xiàng)指標(biāo)。同時該測試方法具有極低的參考源相位噪聲、高速互相關(guān)，可以明顯提高測試的靈敏度。并且可以在大信號存在時測量小電平信號的相位噪聲。

 

 

4、脈沖信號相位噪聲測試原理和方法

 

脈沖調(diào)制信號的頻譜包含了中心譜線和不同PRF處的譜線。根據(jù)相位噪聲的定義，測試脈沖調(diào)制信號的相位噪聲就需要針對不同脈沖調(diào)制參數(shù)對被測信號進(jìn)行濾波。

 

 

4.1、鑒相器法

 

與使用鑒相器法測試CW信號的相位噪聲相比，測試脈沖信號的相位噪聲指標(biāo)就需要PRF濾波。對PRF濾波也有明確的要求：PRF濾波器必須帶內(nèi)平坦度好、邊緣陡峭;不同的PRF頻率需要不同的PRF濾波器;PRF濾波器必須在PRF/2之內(nèi)有平坦的通帶，在PRF之外有很大衰減;同時PRF濾波器衰減了PRF饋通，總之該P(yáng)RF相當(dāng)復(fù)雜，實(shí)現(xiàn)起來很困難，操作也比較復(fù)雜。

 

 

4.2、數(shù)字相位解調(diào)法

 

數(shù)字相位解調(diào)法得益于強(qiáng)大的數(shù)字處理能力，測試脈沖調(diào)制信號的相位噪聲實(shí)現(xiàn)起來就比較簡單，該測試方法具有與CW信號相位噪聲測試相同的結(jié)構(gòu)框圖，沒有鑒相器，無需對參考信號進(jìn)行脈沖調(diào)制。PRF濾波器和脈寬加時間門在DSP中實(shí)現(xiàn)，易于處理不同PRF，無需復(fù)雜的校準(zhǔn)，也可實(shí)現(xiàn)脈沖附加相噪的測量。

 

 

使用數(shù)字相位解調(diào)法測量脈沖信號的相位噪聲首先采用零掃寬自動檢測脈寬和周期，檢測到脈沖信號之后可以自動的根據(jù)脈寬設(shè)置時間門長度，根據(jù)周期設(shè)置最大頻偏，然后進(jìn)行測試。最大可測量頻偏為PRF/2，并且測試時間與連續(xù)波時相同。測試效率較高，操作相對比較簡單、方便。

 

 

5、其他相關(guān)測試

 

5.1、附加(殘余)相位噪聲的測試原理和方法

 

所謂附加相位噪聲是指由器件或電路附加的相位噪聲。例如放大器，上、下變頻器等。

 

 

直接使用頻譜分析儀或者具有鑒相器法測試功能的信號源分析儀測試附加相位噪聲時，一般都需要使用外部信號源和移相器，信號源和移相器指標(biāo)的好壞會直接影響測試結(jié)果，并且實(shí)際操作非常復(fù)雜(需要精準(zhǔn)的調(diào)節(jié)移相器的相位)，由于附加相位噪聲指標(biāo)一般來說都比較低，所以該測試方法測試的結(jié)果尤其是準(zhǔn)確度比較難以令人滿意。

 

采用具有內(nèi)部信號源的數(shù)字相位解調(diào)法進(jìn)行附加相位噪聲的測試操作比較簡單方便，當(dāng)選擇“附加相噪”時，自動對內(nèi)部硬件進(jìn)行重新配置，該測試方法無需鑒相器和移相器，而且內(nèi)部低噪聲頻率合成器產(chǎn)生 DUT 激勵信號，所以該方法很大程度上簡化了測量和校準(zhǔn)設(shè)置。

 

 

5.2、調(diào)幅噪聲的測試原理和方法

 

調(diào)幅噪聲測試常用的方法有兩種：一種是使用二極管檢波器進(jìn)行檢波，但該方法需要外置一個二極管檢波器，需要進(jìn)行復(fù)雜的校準(zhǔn)。另一種方法是使用AM解調(diào)的方法。使用AM解調(diào)的方法操作相對簡單，并且可以同時測試相位噪聲和AM噪聲。采用互相關(guān)法的話還可以大大提高測試靈敏度。

 

 

5.3、VCO測試

 

VCO測試對于VCO研發(fā)設(shè)計(jì)、生產(chǎn)使用具有重要的意義，目前的相位噪聲分析儀可以進(jìn)行完整的VCO測試，對被測VCO提供直流供電以及調(diào)諧供電，并測試VCO的所有參數(shù)。

 

 

5.4、瞬態(tài)測試

 

基于目前的相位噪聲分析儀可以進(jìn)行瞬態(tài)測試，瞬態(tài)測試主要應(yīng)用于跳頻信號的測試，尤其是寬帶跳頻信號的跳頻時間測試。瞬態(tài)測試一般可以分為窄帶模式和寬帶模式，目前寬帶跳頻信號的分析功能可以實(shí)現(xiàn)256MHz-8GHz頻段范圍內(nèi)的跳頻信號的分析。該應(yīng)用使得寬帶跳頻時間測試變得極為簡單。

 

 

6、提高相位噪聲測試靈敏度的互相關(guān)算法

 

無論測試CW信號相位噪聲還是脈沖信號的相位噪聲指標(biāo)，亦或是測試AM噪聲等相關(guān)測試，測量結(jié)果都會受到參考源和鑒相器本身相位噪聲的影響。為了進(jìn)一步提高測試靈敏度，降低參考源和鑒相器的影響，可以在鑒相器法或數(shù)字相位解調(diào)法的基礎(chǔ)之上采用互相關(guān)技術(shù)。其方法的核心為互相關(guān)電路以及互相關(guān)算法。被測信號被分成兩路，一路信號與一參考信號源進(jìn)行鑒相或數(shù)字解調(diào)，而另一路信號則與另一參考源進(jìn)行鑒相或數(shù)字解調(diào)，兩路輸出信號分別進(jìn)行濾波、放大和ADC采樣，然后進(jìn)行互相關(guān)運(yùn)算?；ハ嚓P(guān)技術(shù)對測量靈敏度的提高程度取決于互相關(guān)運(yùn)算次數(shù)。通過對10000次測量結(jié)果求和，參考振蕩器和測試系統(tǒng)的噪聲測試性能可提高20 dB。
 

但是，隨著互相關(guān)次數(shù)的增多，測試的時間會有所加長，尤其是載波近端的相位噪聲測試，多次互相關(guān)將需要很長的測試時間。尤其是鑒相器法采用互相關(guān)算法時會帶來較長的測試時間，而數(shù)字相位解調(diào)法基于強(qiáng)大的數(shù)字信號處理能力，與鑒相器法采用互相關(guān)算法相比較，測試速度會有較大的提高，大大提高測試的效率。

 

 

7、總結(jié)

 

相位噪聲指標(biāo)是射頻、微波領(lǐng)域一項(xiàng)非常關(guān)鍵的指標(biāo)，相位噪聲指標(biāo)的測試是研發(fā)、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)、調(diào)試必須進(jìn)行測試的一項(xiàng)指標(biāo)，測試準(zhǔn)確度要求較高，需要考慮的因素較多。最新的數(shù)字相位解調(diào)法不需要鎖相環(huán)，無需環(huán)路帶寬內(nèi)的噪聲抑制補(bǔ)償，相同靈敏度下，極大提高測試效率。數(shù)字相位解調(diào)法非常易于實(shí)現(xiàn)脈沖相位噪聲，附加相位噪聲，脈沖附加相位噪聲測試，VCO測試及瞬態(tài)測試等多項(xiàng)測試要求，可以極大的滿足多方面測試要求。并且可以進(jìn)行多種測試需求的并行測量。同時數(shù)字相位解調(diào)法測試比較簡單，無需復(fù)雜的操作設(shè)置，測試速度快。尤其是數(shù)字相位解調(diào)法基礎(chǔ)之上增加互相關(guān)算法進(jìn)行測試，使得測試靈敏度極高，是目前進(jìn)行相位噪聲測試以及其他相關(guān)測試最優(yōu)異的測試方法和手段。

 

 

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