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案例解析:ESD問題只與設(shè)計有關(guān)嗎?

發(fā)布時間:2014-07-24 責(zé)任編輯:sherryyu

【導(dǎo)讀】一位工程師遇見一個這樣的奇怪現(xiàn)象,某種型號的臺式電腦在升級Intel新的Cedar Mill和 Presler CPU后,在EMC實驗室做認(rèn)證測試時發(fā)生ESD測試死機(jī)現(xiàn)象,但老款的Prescott CPU測試時卻沒有發(fā)現(xiàn)任何問題。這到底是什么問題呢?請看下文詳解。
 
本人在戴爾工作期間,曾經(jīng)遇到過這樣一個奇怪的現(xiàn)象:某種型號的臺式電腦在升級Intel新的Cedar Mill和 Presler CPU后,在EMC實驗室做認(rèn)證測試時發(fā)生ESD測試死機(jī)現(xiàn)象,但老款的Prescott CPU測試時卻沒有發(fā)現(xiàn)任何問題。但是,當(dāng)我在戴爾內(nèi)部實驗室對此款機(jī)型測試時,無論用哪種CPU,而且無論如何測試,ESD都不會有問題。但當(dāng)這臺電腦送到EMC實驗室重新做ESD實驗時,前面的死機(jī)現(xiàn)象又會重新出現(xiàn),而且死機(jī)也是跟CPU有關(guān)。
 
我們首先發(fā)現(xiàn)EMC實驗室的ESD Gun的型號為EM Test公司的ESD P30,而我們實驗室的型號為EM Test Dito。在EMC實驗室里更換Dito ESD Gun后,同一臺電腦也沒有發(fā)現(xiàn)任何問題。
 
由此看來,ESD的結(jié)果除了跟CPU有關(guān)外,應(yīng)該還跟兩只都已校準(zhǔn)通過的ESD Gun 有關(guān)。因為這個案例的出現(xiàn),戴爾專門修改ESD測試流程,并指定EM TEST Dito ESD Gun為戴爾ESD測試標(biāo)準(zhǔn)用Gun. 后面我還會專門撰寫一篇有關(guān)ESD Gun的分析文章。
 
讓我們再來看ESD跟CPU的關(guān)系。我們分析Intel新的Cedar Mill和 Presler CPU是采用最新的65nm,而老款的Prescott CPU是95nm工藝。新款的CPU頻率更高,速度更快,但對干擾信號也更敏感。由于ESD信號的頻譜很寬,頻譜高頻部分高達(dá)GHZ以上。如果CPU工作頻率恰好與ESD干擾頻率重合的話,ESD肯定會干擾到CPU的正常工作。
 
由于我們無法要求Intel去修改CPU設(shè)計及工藝流程,Intel Cedar Mill和 Presler CPU也必須通過測試才能拿到認(rèn)證上市,唯一的辦法還是修改設(shè)計,在PCB排版或者結(jié)構(gòu)設(shè)計上想辦法。
 
由于此次只是升級CPU,臺式機(jī)的結(jié)構(gòu)上也很難做什么改變,最終只能在PCB排版上想辦法。經(jīng)過近一個月的艱苦努力,我們終于發(fā)現(xiàn)PCB排版上的問題,并最終通過版圖升級將此ESD問題徹底解決。此解決方案最終也被納入戴爾EMC設(shè)計流程控制文件。
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