你的位置:首頁 > 電源管理 > 正文

電源噪聲和時鐘抖動對高速DAC相位噪聲的影響的分析及管理

發(fā)布時間:2018-03-22 來源:Jarrah Bergeron 責(zé)任編輯:wenwei

【導(dǎo)讀】在所有器件特性中,噪聲可能是一個特別具有挑戰(zhàn)性、難以掌握的設(shè)計課題。這些挑戰(zhàn)常常導(dǎo)致一些道聽途說的設(shè)計規(guī)則,并且開發(fā)中要反復(fù)試錯。本文將解決相位噪聲問題,目標(biāo)是通過量化分析來闡明如何圍繞高速數(shù)模轉(zhuǎn)換器中的相位噪聲貢獻(xiàn)進(jìn)行設(shè)計。本文旨在獲得一種"一次成功"的設(shè)計方法,即設(shè)計不多不少,剛好滿足相位噪聲要求。
 
從一塊白板開始,首先將DAC視作一個模塊。噪聲可能來自內(nèi)部,因為任何實際元器件都會產(chǎn)生某種噪聲;也可能來自外部噪聲源。外部噪聲源可通過DAC的任何外部的任何外部任意連接,包括電源、時鐘和數(shù)字接口等,進(jìn)入其中。圖1顯示了這些可能性。下面將對每一種可能的噪聲嫌疑對象分別進(jìn)行研究,以了解其重要性。
 
電源噪聲和時鐘抖動對高速DAC相位噪聲的影響的分析及管理
圖1.DAC相位噪聲來源
 
首先討論數(shù)字接口,它恰好是最容易處理的。數(shù)字I/O負(fù)責(zé)接收要在模擬域中輸出的數(shù)字采樣信號。眾所周知,如眼圖所示,數(shù)字電路和收到的波形多含噪聲。由此看來,相應(yīng)的問題是:是否所有這種噪聲和活動都能滲入DAC內(nèi)部的不同區(qū)域且表現(xiàn)為相位噪聲?當(dāng)然,數(shù)字接口可能在別處引起噪聲,但這里關(guān)心的是相位噪聲。
 
為了證明I/O是否需要關(guān)切,我們比較了 AD9162 系列高速DAC器件開啟和關(guān)閉數(shù)字接口兩種情況下的相位噪聲。無數(shù)字接口時,器件的NCO模式內(nèi)部生成波形,DAC事實上變成DDS發(fā)生器。圖2顯示了實驗結(jié)果。
 
電源噪聲和時鐘抖動對高速DAC相位噪聲的影響的分析及管理
圖2.不同插值時的相位噪聲
 
相位噪聲的峰值會根據(jù)接口的具體情況發(fā)生變化。現(xiàn)在我們感興趣的是,噪聲和所有曲線在彼此之上。因此,對于這個產(chǎn)品線,盡管由于系統(tǒng)要求可能要注意雜散,但接口不是問題。發(fā)現(xiàn)接口無需擔(dān)心之后,我們感興趣的下一個方面是時鐘。
 
時鐘
 
DAC時鐘是DAC中產(chǎn)生相位噪聲的首要原因。此時鐘決定何時發(fā)送下一樣本,故相位(或時序)中的任何噪聲都會直接影響輸出的相位噪聲,如圖3所示。此過程可以視作各相繼離散值與一個矩形函數(shù)相乘,其時序由時鐘定義。在頻域中,乘法轉(zhuǎn)換為卷積運算。結(jié)果,期望的頻譜被時鐘相位噪聲所破壞,如圖4所示。但是,確切的關(guān)系并不是顯而易見的。下面將給出簡明推導(dǎo)。
 
電源噪聲和時鐘抖動對高速DAC相位噪聲的影響的分析及管理
圖3.時鐘與相位噪聲的相關(guān)性
 
電源噪聲和時鐘抖動對高速DAC相位噪聲的影響的分析及管理
圖4.相位噪聲卷積
 
獲取時鐘和輸出的時間快照,圖5顯示了一個波形實例。其目的是求出時鐘和輸出的噪聲幅度之比,如圖6中的紅色箭頭所示:可以畫直角三角形,雖然任一邊長都不知道,但兩個三角形有共同的水平邊。
 
電源噪聲和時鐘抖動對高速DAC相位噪聲的影響的分析及管理
圖5.波形快照
 
電源噪聲和時鐘抖動對高速DAC相位噪聲的影響的分析及管理
圖6.相位噪聲關(guān)系
 
設(shè)斜率為相應(yīng)波形的導(dǎo)數(shù),根據(jù)幾何可得出以下等式:
 
電源噪聲和時鐘抖動對高速DAC相位噪聲的影響的分析及管理
 
針對DAC噪聲重新整理,得出下式:
 
電源噪聲和時鐘抖動對高速DAC相位噪聲的影響的分析及管理
 
我們常常對正弦或接近正弦的DAC輸出和時鐘波形感興趣,所以上述結(jié)果可進(jìn)一步簡化。如果這一假設(shè)不成立,則仍應(yīng)使用上式。
 
電源噪聲和時鐘抖動對高速DAC相位噪聲的影響的分析及管理
 
重新整理后得到:
 
電源噪聲和時鐘抖動對高速DAC相位噪聲的影響的分析及管理
 
注意,噪聲關(guān)系等同于相對于相應(yīng)波形幅度的關(guān)系,因此可以將其簡潔地歸納為相對于載波的關(guān)系。另外,通過使用對數(shù)單位,我們得到下式: 
 
電源噪聲和時鐘抖動對高速DAC相位噪聲的影響的分析及管理
 
根據(jù)信號頻率與時鐘頻率之比,相對于載波的噪聲放大或縮小。信號頻率每降低一半,噪聲改進(jìn)6 dB。研究幾何圖像可知這是合理的,因為下面的三角形會變得更尖銳,垂直邊會縮小。還應(yīng)注意,如果噪聲以相同幅度提高,則提高時鐘幅度不會改善相位噪聲。
 
為了證明這一點,可通過調(diào)制輸入DAC的時鐘來模擬相位噪聲。圖7顯示5 GHz DAC時鐘上有100 kHz的輕度相位調(diào)制。其上還繪出了500 MHz和1 GHz的輸出頻譜。信號音確實遵循了這種關(guān)系。從5 GHz時鐘到500 MHz DAC輸出觀測到20 dB降幅,從500 MHz輸出到1 GHz輸出觀測到6 dB增幅。
 
電源噪聲和時鐘抖動對高速DAC相位噪聲的影響的分析及管理
圖7.帶100 kHz相位調(diào)制的時鐘輸出相位噪聲.
 
精密受控的實驗固然好,但我們關(guān)心的是實際噪聲。用寬帶頻率合成器 ADF4355 代替發(fā)生器,圖8顯示了新時鐘源的相位噪聲曲線,對應(yīng)的DAC輸出為時鐘頻率的½和¼。噪聲特性得到保留,每次降低6 dB。應(yīng)注意,PLL未針對最佳相位噪聲而優(yōu)化。目光敏銳的讀者會注意到,在小偏移處有一些預(yù)期偏差,但這是不同基準(zhǔn)源引起的正?,F(xiàn)象。
 
電源噪聲和時鐘抖動對高速DAC相位噪聲的影響的分析及管理
圖8.采用寬帶頻率合成器時鐘源時的DAC輸出相位噪聲
 
另一個需要探討的方面是輸入功率與噪聲的"無關(guān)性"。只有噪聲功率與載波的差異才是重要的。這意味著,直接放大時鐘信號是沒有益處的。圖9說明情況確是如此。唯一的變化是噪底略有提高,這要歸因于信號發(fā)生器。這一看法僅在合理范圍內(nèi)有效;在某一特定點,時鐘的貢獻(xiàn)會變得非常弱,以致于其他因素(如時鐘接收器噪聲)開始占主導(dǎo)地位。
 
電源噪聲和時鐘抖動對高速DAC相位噪聲的影響的分析及管理
圖9.相位噪聲與輸入功率的關(guān)系
 
最后簡單說明一下新采樣方案2× NRZ。AD9164 DAC系列器件引入了這種新采樣模式,在時鐘的上升沿和下降沿均可轉(zhuǎn)換采樣數(shù)據(jù)。不過,盡管有這些變化,相位噪聲特性卻保持不變。圖10比較了原NRZ模式和這一新模式。圖中曲線表明相位噪聲相同,但可以看到噪底有所上升。這一結(jié)論的前提是上升沿和下降沿的噪聲特性相同,對大多數(shù)振蕩器而言這一前提確實成立。
 
電源噪聲和時鐘抖動對高速DAC相位噪聲的影響的分析及管理
圖10.相位噪聲和2× NRZ
 
電源
 
噪聲的下一個可能進(jìn)入點是電源。芯片上的所有電路都必須通過某種方式供電,這就給噪聲傳播到輸出提供了很多機(jī)會。具體機(jī)制取決于電路,不過下面著重指出了幾種可能性。DAC輸出端通常由電流源和MOS開關(guān)組成,開關(guān)引導(dǎo)電流通過正引腳或負(fù)引腳(圖11)。顯然,電流源從外部電源獲得功率,任何噪聲都會反映為電流波動。噪聲可以經(jīng)過開關(guān)到達(dá)輸出端,但這僅解釋了基帶直接耦合。要貢獻(xiàn)相位噪聲,此噪聲必須上混頻到載波頻率。這一過程是通過開關(guān)MOSFET完成的,其充當(dāng)平衡混頻器。噪聲的另一路徑是通過上拉電感,其從供電軌設(shè)置直流偏置,這里存在的任何噪聲都會流到晶體管。這種波動會改變其工作條件,如源漏電壓和電流源負(fù)載等,引起電流變化,從而又一次上混頻到RF信號。一般來說,如果開關(guān)切換能能夠把噪聲混頻到目標(biāo)信號, 這些開關(guān)電路都是電源噪聲在輸出信號中的相位噪聲的貢獻(xiàn)者。
 
電源噪聲和時鐘抖動對高速DAC相位噪聲的影響的分析及管理
圖11.DAC電流源
 
鑒于所有這些電路和混頻現(xiàn)象,要快速模擬所有這些行為是相當(dāng)困難的。相反,對其他模擬模塊的特性分析可以給我們帶來一些啟發(fā)。穩(wěn)壓器、運算放大器和其他IC會規(guī)定電源抑制比。電源抑制性能衡量負(fù)載對電源變化的靈敏度,可用于這里的相位噪聲分析。然而,使用的不是抑制比,而是調(diào)制比:電源調(diào)制比(PSMR)。傳統(tǒng)PSRR方法對基帶應(yīng)用中的DAC仍然有用,但與此處無關(guān)。下一步是獲得具體數(shù)據(jù)。
 
測量PSMR要求調(diào)制待研究的供電軌。典型設(shè)置見圖12。電源調(diào)制通過一個插在穩(wěn)壓器與負(fù)載之間的耦合電路獲得,疊加上一個由信號發(fā)生器產(chǎn)生的正弦信號。耦合電路的輸出通過一個示波器監(jiān)控,以找出實際電源調(diào)制。最終得到的DAC輸出饋入一個頻譜分析儀。PSMR等于從示波器發(fā)現(xiàn)的電源交流分量與載波周圍的調(diào)制邊帶電壓之比。
 
電源噪聲和時鐘抖動對高速DAC相位噪聲的影響的分析及管理
圖12.PSMR測量
 
存在多種不同的耦合機(jī)制。ADI公司應(yīng)用工程師Rob Reeder在應(yīng)用筆記 MS-2210 中解釋了如何利用LC電路來測量ADC的PSMR。其他選項包括電源運算放大器、變壓器或?qū)S谜{(diào)制電源。這里使用的方法是變壓器。建議使用高匝數(shù)比以降低信號發(fā)生器的源阻抗。圖14顯示了典型測量結(jié)果。
 
采用1:100匝數(shù)比的電流檢測變壓器和函數(shù)發(fā)生器,1.2 V時鐘電源用500 kHz信號調(diào)制,所得峰峰值電壓為38 mV。DAC時鐘速度為5 GSPS。所得輸出在一個滿量程1 GHz、–35 dBm載波上引起邊帶。將功率轉(zhuǎn)換為電壓,然后利用調(diào)制電源電壓求比值,所得PSMR為–11 dB。
 
電源噪聲和時鐘抖動對高速DAC相位噪聲的影響的分析及管理
圖13.時鐘電源調(diào)制
 
電源噪聲和時鐘抖動對高速DAC相位噪聲的影響的分析及管理
圖14.調(diào)制邊帶
 
執(zhí)行單個數(shù)據(jù)點,可以在多個頻率上進(jìn)行掃描。但是,AD9164 DAC總共包含8個電源。一種方案是測量所有電源,但我們可以把重點放在最敏感的電源上:AVDD12、AVDD25、VDDC12和VNEG12。某些電源(如SERDES)與本分析無關(guān),故不包括在內(nèi)。掃描多個頻率和電源,結(jié)果總結(jié)于圖15中。
 
電源噪聲和時鐘抖動對高速DAC相位噪聲的影響的分析及管理
圖15.掃描頻率測得的電源PSMR
 
時鐘電源是最為敏感的供電軌,然后是負(fù)1.2 V和2.5 V模擬電源,1.2 V模擬電源則不是很敏感。加以適當(dāng)考慮的話,1.2 V模擬電源可由開關(guān)穩(wěn)壓器供電,但時鐘電源完全相反:它需要由超低噪聲LDO提供以獲得最優(yōu)性能。
 
PSMR只能在一定頻率范圍內(nèi)測量。下限受衰減的磁耦合限制。所選變壓器的截止頻率較低,約為數(shù)十kHz。在上限,去耦電容會降低負(fù)載阻抗,導(dǎo)致供電軌越來越難以驅(qū)動。只要功能不受影響,為了測試目的可以移除一些電容。
 
使用PSMR之前,應(yīng)注意幾點。不同于PSRR,PSMR取決于波形功率或數(shù)字倒退(后者就DAC而言)。信號功率越低,則邊帶越低,比例關(guān)系為1:1。但是,回退回退倒退對設(shè)計人員無益,因為邊帶相對于載波是恒定的。第二點是與載波頻率的相關(guān)性。載波掃描顯示,在較高頻段時性能會以不同速率發(fā)生線性衰減。有意思的是,供電軌越敏感,斜率越陡。例如,時鐘電源的斜率為–6.4 dB/倍頻程,而負(fù)模擬電源的斜率為–4.5 dB/倍頻程。采樣速率也會影響PSMR。最后,PSMR僅提供相位噪聲貢獻(xiàn)的上限,因為它并未與同時產(chǎn)生的幅度噪聲區(qū)分開來。
 
電源噪聲和時鐘抖動對高速DAC相位噪聲的影響的分析及管理
圖16.電源PSMR與信號頻率的關(guān)系
 
考慮到這些不同的噪聲要求,考察不同電源方案有助于理解電源 對相噪的影響。LDO是久經(jīng)考驗的穩(wěn)壓器,尤其適合用來實現(xiàn)最佳 噪聲性能。然而,不是任何LDO都行。圖17中的15002C曲線顯示了 AD9162 DAC初始評估板的相位噪聲。DAC輸出設(shè)置為3.6 GHz,DAC 時鐘速度為4 GHz,來自Wenzel時鐘源。在1 kHz到100 kHz的相位噪 聲高原上,占主導(dǎo)地位的疑似時鐘電源噪聲: ADP1740 LDO。利用此LDO的頻譜噪聲密度曲線和DAC PSMR測量結(jié)果(圖16),也可以計算其貢獻(xiàn)并繪出曲線,如圖17所示。雖然因為外推而沒有精確對齊,但計算得到的點與實測噪聲是合理對齊的,證實了時鐘電源對噪聲的影響。在電源解決方案的重新設(shè)計中,此LDO被更低噪聲的 ADP1761取代。在某些偏移處噪聲降低多達(dá)10 dB,接近時鐘的貢獻(xiàn)(15002D)。
 
電源噪聲和時鐘抖動對高速DAC相位噪聲的影響的分析及管理
圖17.AD9162評估板噪聲
 
噪聲不僅會因為穩(wěn)壓電源的器不同而大不相同,而且可能受到輸出電容、輸出電壓和負(fù)載影響。應(yīng)當(dāng)仔細(xì)考慮這些因素,尤其是對于敏感的供電軌。另一方面,根據(jù)整體系統(tǒng)要求,LDO不一定需要。
 
通過適當(dāng)?shù)腖C濾波,開關(guān)穩(wěn)壓器可提供電源,從而簡化電源解決方案。同LDO一樣,從穩(wěn)壓器NSD開始,并相應(yīng)地展開設(shè)計。但由于采用LC濾波器,所以應(yīng)注意串聯(lián)諧振。不僅瞬變會變得難以駕馭,而且諧振頻率附近可能出現(xiàn)電壓增益,提高供電軌噪聲和相位噪聲。諧振可通過對電路降低Q值——給電路增加損耗性元件,加以控制。下圖顯示了來自另一個設(shè)計的例子,其采用AD9162 DAC。
 
在該設(shè)計中,時鐘電源也是由ADP1740 LDO提供高,但其后接一個LC濾波器。原理圖顯示了所考慮的濾波器,RL模型表示電感,RC模型表示主濾波電容(C1+R1)。濾波器響應(yīng)如圖20所示,特征諧振用紅線表示。正如所料,此濾波器的跡象特征出現(xiàn)在相位噪聲響應(yīng)中,即圖21中的藍(lán)色曲線。由于濾波作用,100 kHz附近的噪聲趨穩(wěn),隨后急劇下降。幸運的是,LC濾波器峰化不夠嚴(yán)重,未引起明顯的尖峰,但濾波器仍可改善。這里采用的方案是再增加一個較大電容和一個適當(dāng)?shù)拇?lián)電阻,用來消耗能量。圖中所示的串聯(lián)電路由22 μ‎F電容和100 mΩ電阻組成,它使響應(yīng)平穩(wěn)很多(藍(lán)色曲線)。最終結(jié)果是此頻率偏移附近的相位噪聲得到改善,參見圖21中的黃色曲線。
 
電源噪聲和時鐘抖動對高速DAC相位噪聲的影響的分析及管理
圖18.LC濾波器和去Q網(wǎng)絡(luò)
 
電源噪聲和時鐘抖動對高速DAC相位噪聲的影響的分析及管理
圖19.LC濾波器響應(yīng)
 
電源噪聲和時鐘抖動對高速DAC相位噪聲的影響的分析及管理
圖20.相位噪聲響應(yīng)
 
最后需要分析的噪聲源是器件本身的相位噪聲。AD9164 DAC系列器件的相位噪聲非常低,難以量化。消除所有預(yù)期噪聲源后,殘余噪聲來自DAC,如圖22所示。圖中也顯示了仿真的相位噪聲曲線,其與測量結(jié)果相當(dāng)吻合。在某些區(qū)域,時鐘相位噪聲仍占主導(dǎo)地位。
 
電源噪聲和時鐘抖動對高速DAC相位噪聲的影響的分析及管理
圖21.AD9162相位噪聲
 
結(jié)語
 
面對上文討論的所有噪聲源,設(shè)計人員可能會茫然不知所措。一種簡單的做法是采取某種"推薦解決方案";但對任何具體設(shè)計要求而言,這都是次優(yōu)做法。與RF信號鏈和精密誤差預(yù)算類似,設(shè)計過程中可以使用相位噪聲預(yù)算。利用時鐘源相位噪聲、各供電軌的PSMR結(jié)果、LDO噪聲特性和DAC設(shè)置,可以計算并優(yōu)化各噪聲源的噪聲貢獻(xiàn)。圖22顯示了一個預(yù)算示例。正確考慮所有噪聲源,便可分析和管理相位噪聲,并確保信號鏈設(shè)計一次成功。
 
電源噪聲和時鐘抖動對高速DAC相位噪聲的影響的分析及管理
圖22.相位噪聲預(yù)算示例
 
參考電路
 
Brannon,Brad。應(yīng)用筆記AN-756,采樣系統(tǒng)以及時鐘相位噪聲和抖動的影響。ADI公司,2004。
 
Reeder, Rob。 "高速ADC的電源設(shè)計." ADI公司,2012年2月。
 
推薦閱讀:
 
改進(jìn)的DAC相位噪聲測量以支持超低相位噪聲DDS應(yīng)用
了解儀表放大器—鉆石圖工具的秘密
物聯(lián)網(wǎng)邊緣的智能視頻分析技術(shù)
終結(jié)高速轉(zhuǎn)換器帶寬術(shù)語
什么是信號源測量單元?
特別推薦
技術(shù)文章更多>>
技術(shù)白皮書下載更多>>
熱門搜索
?

關(guān)閉

?

關(guān)閉