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玩轉(zhuǎn)LTspice丨生成LED驅(qū)動器的波德圖,你學(xué)會了沒?

發(fā)布時(shí)間:2021-06-01 來源:亞德諾半導(dǎo)體 責(zé)任編輯:lina

【導(dǎo)讀】閉環(huán)增益和相位圖是用于確定開關(guān)調(diào)節(jié)器控制環(huán)路穩(wěn)定性的常用工具。正確完成增益和相位測量需熟悉高級網(wǎng)絡(luò)分析儀。測量包括斷開控制環(huán)路、注入噪聲,以及測量一定頻率范圍內(nèi)的增益和相位(見圖1)。這種測量控制環(huán)路的做法很少應(yīng)用于LED驅(qū)動器。
 
LED驅(qū)動器控制環(huán)路相位和增益測量需要采用一種不同的方法(見圖1)——從典型的電阻分壓路徑到GND電壓調(diào)節(jié)器注入和測量點(diǎn)的偏差。在這兩種情況下,臺式控制環(huán)路相位和增益測量是保證穩(wěn)定性的最佳方法,但并非每個(gè)工程師都有所需的設(shè)備和經(jīng)驗(yàn)豐富的工廠應(yīng)用程序團(tuán)隊(duì)加持。工程師們該怎么辦呢?
 
一種選擇是構(gòu)建LED驅(qū)動器,查看它瞬態(tài)的響應(yīng)。瞬態(tài)響應(yīng)觀察需要應(yīng)用板和更常見的臺式設(shè)備。瞬態(tài)分析的結(jié)果缺乏波德圖基于頻率的增益和相位數(shù)據(jù)——可用于保證穩(wěn)定性,也可作為一般控制環(huán)路穩(wěn)定性和速度的指示器。
 
大信號瞬態(tài)可用于檢查絕對偏差和系統(tǒng)響應(yīng)時(shí)間。瞬態(tài)擾動的形狀表示相位或增益裕量,因此可用于了解一般環(huán)路穩(wěn)定性。例如,臨界阻尼響應(yīng)可能表示45°至60°的相位裕度?;蛘?,瞬態(tài)期間的大尖峰可能表示需要更多的COUT或更快的環(huán)路。較長的建立時(shí)間可能表示需要加快環(huán)路的帶寬(和交越頻率)。這些相對簡單的系統(tǒng)檢查能夠在運(yùn)行中描繪開關(guān)調(diào)節(jié)器的控制環(huán) 路,但增益和相位波德圖需要進(jìn)行更深入的分析。
 
LTspice® 仿真可用在組裝或生產(chǎn)電路之前生成開關(guān)調(diào)節(jié)器輸出的瞬變波形和波德圖。這有助于大致了解控制環(huán)路的穩(wěn)定性,以便開始選擇補(bǔ)償元件和確定輸出電容大小。LTspice的使用過程基于1975年Middlebrook的最初建議(請參閱"LTspice:生成SMPS波德圖的基本步驟")。目前,Middlebrook的方法中列出的實(shí)際信號注入位置并不常用,但經(jīng)過多年的調(diào)整,得出了如圖1a所示的常用注入位置。
 
此外,帶有高邊檢測電阻和復(fù)雜交流電阻LED負(fù)載的LED驅(qū)動器,在反饋路徑中應(yīng)有一個(gè)不同于目前的注入點(diǎn)或Middlebrook最初建議的注入點(diǎn),LTspice此前未予說明。這里介紹的方法是展示如何在LTspice和實(shí)驗(yàn)室中生成LED驅(qū)動器電流測量反饋環(huán)路波德圖。
 
產(chǎn)生控制環(huán)路波德圖
 
標(biāo)準(zhǔn)開關(guān)調(diào)節(jié)器控制環(huán)路波德圖產(chǎn)生三個(gè)關(guān)鍵測量值,用于確定穩(wěn)定性和速度:
相位裕量
交越頻率(帶寬)
增益裕量
 
一般認(rèn)為,穩(wěn)定的系統(tǒng)需要45°至60°的相位裕度,而為保證環(huán)路穩(wěn)定性則需要–10 dB的增益裕量。交越頻率與一般環(huán)路速度有關(guān)。圖1顯示了使用網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行這些測量的設(shè)置。
 
玩轉(zhuǎn)LTspice丨生成LED驅(qū)動器的波德圖,你學(xué)會了沒?
圖1. 開關(guān)調(diào)節(jié)器控制環(huán)路波德圖測量,帶有網(wǎng)絡(luò)分析儀,用于(a)電壓調(diào)節(jié)器和(b)LED驅(qū)動器。為了進(jìn)行測量,控制環(huán)路斷開,正弦波擾動進(jìn)入高阻抗路徑,同時(shí)測量由此產(chǎn)生的控制環(huán)路增益和相位,使設(shè)計(jì)人員能夠量化環(huán)路的穩(wěn)定性。
 
LTspice模擬可用在LED的控制環(huán)路中創(chuàng)建類似的注入和測量。圖2顯示了一個(gè)LED驅(qū)動器(LT3950),給定頻率(f)的理想正弦波直接注入到負(fù)感測線(ISN)的反饋路徑中。測量點(diǎn)A、B和C用于計(jì)算注入頻率(f)下的增益(dB)和相位(°)。為了繪 制整個(gè)控制環(huán)路的波德圖,必須在大頻率掃描范圍內(nèi)重復(fù)該測量,并在fSW/2(轉(zhuǎn)換器開關(guān)頻率的一半)處停止。
 
玩轉(zhuǎn)LTspice丨生成LED驅(qū)動器的波德圖,你學(xué)會了沒?
圖2. LT3950 DC2788A演示電路LED驅(qū)動器LTspice模型,帶控制環(huán)路噪聲注入和測量點(diǎn)。
 
圖2中點(diǎn)A、點(diǎn)B和點(diǎn)C的測量值決定了注入頻率(f)下控制環(huán)路的增益和相位。不同的注入頻率產(chǎn)生不同的增益和相位??傊?,為了解它的工作原理,可以設(shè)置注入頻率,并測量A-C和B-C的增益和相位。這會產(chǎn)生控制環(huán)路波德圖的單個(gè)頻率點(diǎn)。圖3a和3b顯示了10 kHz ±10 mV AC注入的增益和相位。圖3c和3d顯示了40 kHz ±10 mV AC注入的增益和相位。
頻率掃描以及B-C和A-C之間的增益和相位測量生成整個(gè)閉環(huán)波德圖。如摘要中所述,這通常是在工作臺上使用一臺昂貴的網(wǎng)絡(luò)分析儀來完成的。在LTspice中也可進(jìn)行這種掃描,如圖4所示。通過與使用網(wǎng)絡(luò)分析儀的臺式測試結(jié)果進(jìn)行比較,證實(shí)這些結(jié)果(見圖8)。
 
玩轉(zhuǎn)LTspice丨生成LED驅(qū)動器的波德圖,你學(xué)會了沒?
圖3. 圖2中點(diǎn)A、點(diǎn)B和點(diǎn)C的測量值決定了注入頻率(f)下控制環(huán)路的增益和相位。不同的注入頻率產(chǎn)生不同的增益和相位。圖3a和3b顯示了10 kHz ±10 mV AC注入的增益和相位。圖3c和3d顯示了40 kHz ±10 mV AC注入的增益和相位。頻率掃描以及B-C和A-C之間的增益和相位測量生成閉環(huán)波德圖。
 
 
玩轉(zhuǎn)LTspice丨生成LED驅(qū)動器的波德圖,你學(xué)會了沒?
圖4. 用LTspice中的LT3950進(jìn)行波德圖測量,顯示增益(實(shí)線)和相位(虛線)。
 
在LTspice中創(chuàng)建全部增益和相位掃描和波德圖
 
要在LTspice中為控制環(huán)路創(chuàng)建全部波德圖、增益和相位的圖形掃描,請按照下列步驟操作。
 
第1步:創(chuàng)建交流電注入源
在LTspice中,插入±10 mV AC注入電壓源和注入電阻,并標(biāo)記節(jié)點(diǎn)A,B和C,如圖2所示。交流電壓源值SINE(0 10m {Freq})設(shè)置10 mV峰值并掃描頻率。用戶可以使用1 mV至20 mV的正弦峰值來進(jìn)行計(jì)算。注意:許多LED驅(qū)動器的感應(yīng)電壓分別為250 mV和100 mV。較高的注入噪聲會產(chǎn)生LED電流調(diào)節(jié)誤差。
 
第2步:添加Math
在原理圖上將測量描述作為.sp(SPICE)指令插入。這些指令執(zhí)行傅里葉變換公式,并以dB和相位計(jì)算LED驅(qū)動器的復(fù)數(shù)開環(huán)增益和相位。
各指令如下:
.measure Aavg avg V(a)-V(c)
.measure Bavg avg V(b)-V(c)
.measure Are avg (V(a)-V(c)-Aavg)*cos(360*time*Freq)
.measure Aim avg -(V(a)-V(c)-Aavg)*sin(360*time*Freq)
.measure Bre avg (V(b)-V(c)-Bavg)*cos(360*time*Freq)
.measure Bim avg -(V(b)-V(c)-Bavg)*sin(360*time*Freq)
.measure GainMag param 20*log10(hypot(Are,Aim) / hypot(Bre,Bim))
.measure GainPhi param mod(atan2(Aim, Are) - atan2(Bim, Bre)+180,360)-180
 
第3步:設(shè)置測量參數(shù)
還需要一些小的指令。首先,為進(jìn)行正確的測量,電路必須處于模擬的穩(wěn)定狀態(tài)(啟動后)。調(diào)整t0,或測量的開始時(shí)間和停止時(shí)間。通過模擬和觀察啟動時(shí)間來估算或得出開始時(shí)間。達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài)后,停止時(shí)間定為10/freq,即10個(gè)周期,通過對每個(gè)頻率的10個(gè)周期求平均值來減少誤差。
各指令如下:
.param t0=0.2m
.tran 0 {t0+10/freq} {t0} startup
.step oct param freq 1K 1M 3
 
第4步:設(shè)置頻率采樣步長和范圍
.step命令設(shè)置執(zhí)行分析的頻率分辨率和范圍。本例中,使用每倍頻程3點(diǎn)的分辨率,模擬1 kHz到1 MHz。波德圖測量可以精準(zhǔn)到fSW/2,頻率上限設(shè)置為系統(tǒng)開關(guān)頻率的一半。顯然,點(diǎn)越多,分辨率越高,仿真時(shí)間越長。每倍頻程3點(diǎn)是最低的分辨率,但以最小分辨率運(yùn)行仿真可節(jié)省一些時(shí)間。從總體設(shè)計(jì)周期看,5分鐘的仿真比設(shè)計(jì)、組裝和測試印刷電路板快幾個(gè)數(shù)量級?;谶@點(diǎn),以更高的分辨率運(yùn)行,例如每倍頻程5點(diǎn)或以上,生成更完整且更容易查看的結(jié)果。
 
第5步:運(yùn)行仿真
這會比較直觀,但LTspice需要多個(gè)步驟制作波德圖。第一步是運(yùn)行仿真,暫不生成圖,只顯示正常范圍的電壓和電流測量值。按照以下步驟生成波德圖。
 
第6步:制作波德圖
右鍵單擊原理圖窗口,打開"SPICE錯(cuò)誤日志",選擇Plot .step''ed .meas data。從"畫圖設(shè)置目錄"中選擇"可見曲線",然后選擇"增益"來繪制數(shù)據(jù)?;蛘撸赏ㄟ^單擊文件,然后選擇將數(shù)據(jù)導(dǎo)出為文本,產(chǎn)生波德數(shù)據(jù)的CSV文件,導(dǎo)出測量數(shù)據(jù)。
 
在仿真之后,使用網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行波德圖確認(rèn)
 
控制環(huán)路的仿真不像真實(shí)的那樣可靠,它不能完全保證環(huán)路的穩(wěn)定性和裕度。在設(shè)計(jì)過程的某個(gè)階段,應(yīng)在實(shí)驗(yàn)室使用網(wǎng)絡(luò)分析儀工具驗(yàn)證控制環(huán)路。
 
LTspice中生成的波德圖可以與網(wǎng)絡(luò)分析儀的波德圖測量結(jié)果比較。類似放真,通過將噪聲注入反饋環(huán)路并測量和處理A-B和A-C的增益和相位來捕獲實(shí)際的環(huán)路測量結(jié)和照片如圖5至圖7所示。
 
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圖5. 網(wǎng)絡(luò)分析儀的LED驅(qū)動器控制環(huán)路波德圖測量設(shè)置。
 
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圖6. Venable System Model 5060A老式網(wǎng)絡(luò)分析儀,用于高邊浮動噪聲注入和LED驅(qū)動器的測量。
 
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圖7. LT3950 LED驅(qū)動器上的噪聲注入和測量點(diǎn)。
 
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圖8. DC2788A演示電路板上的LT3950 LED驅(qū)動器的波德圖。通過LTspice模擬生成的圖(藍(lán)線)與使用網(wǎng)絡(luò)分析儀生成的圖(綠線)相關(guān)性強(qiáng)。
 
玩轉(zhuǎn)LTspice丨生成LED驅(qū)動器的波德圖,你學(xué)會了沒?
表1. LT3950 LED驅(qū)動器的波德圖測量數(shù)據(jù)比較,LTspice vs.網(wǎng)絡(luò)分析儀
 
Ltspice仿真結(jié)果顯示與網(wǎng)絡(luò)分析儀數(shù)據(jù)的強(qiáng)相關(guān)性,證明LTspice是LED驅(qū)動器設(shè)計(jì)中的有效工具——產(chǎn)生大概的參考,幫助工程師縮小元件選擇范圍。較低頻率下的增益和相位與硬件非常相近,較高頻率下的仿真數(shù)據(jù)和硬件數(shù)據(jù)之間的差異更大。這可能代表了對高頻極點(diǎn)、零點(diǎn)、寄生電感、電容和等效串聯(lián)電阻建模的挑戰(zhàn)。
 
結(jié)論
 
LTspice建模用于測量控制環(huán)路增益和相位,生成LED驅(qū)動器的波德圖。Ltspice仿真數(shù)據(jù)的精確度取決于所使用的SPICE模型的精確度,精確地建模每個(gè)元件以解決現(xiàn)實(shí)情況會增加仿真時(shí)間。就LED驅(qū)動器設(shè)計(jì)而言,沒有完善的元件建模,LTspice數(shù)據(jù)也可用于相對較快地縮小元件范圍并預(yù)測總體電路性能。仿真有助于在過渡到硬件設(shè)計(jì)之前指導(dǎo)設(shè)計(jì)工程師,節(jié)省總體設(shè)計(jì)時(shí)間。粗略地選擇元件后,使用內(nèi)置板和網(wǎng)絡(luò)分析儀的測量可以確認(rèn)或?qū)Ρ确抡娼Y(jié)果,作為開發(fā)期間硬件驗(yàn)證的一種手段。
 
 
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