你的位置:首頁(yè) > EMC安規(guī) > 正文

手機(jī)電磁兼容測(cè)試之輻射騷擾及傳導(dǎo)騷擾

發(fā)布時(shí)間:2013-03-15 責(zé)任編輯:Lynnjiao

【導(dǎo)讀】本文針對(duì)手機(jī)的輻射騷擾及傳導(dǎo)騷擾中經(jīng)常發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題進(jìn)行了分析,并提出了相應(yīng)的改善手機(jī)電磁兼容性能的建議。

輻射騷擾及傳導(dǎo)騷擾

輻射騷擾、傳導(dǎo)騷擾相關(guān)問(wèn)題的具體情況

輻射騷擾測(cè)試主要在30 MHz-100 MHz和200 MHz-900 MHz頻率范圍內(nèi)容易不合格,傳導(dǎo)騷擾則體現(xiàn)在5 MHz-30 MHz頻段范圍內(nèi)容易不合格。

輻射騷擾傳導(dǎo)騷擾相關(guān)問(wèn)題分析

輻射騷擾與傳導(dǎo)騷擾測(cè)試,是在使用充電器為手機(jī)充電,同時(shí)手機(jī)保持通信狀態(tài)以及最大發(fā)射功率情況下,進(jìn)行的電磁兼容測(cè)試。測(cè)試的結(jié)果是手機(jī)與充電器聯(lián)合工作的情況下的測(cè)試結(jié)果。不合格的原因可能是充電器造成的,也可能是手機(jī)本身造成的,也可能是手機(jī)與充電器聯(lián)合工作時(shí)兼容性不好而不合格。

手機(jī)輻射騷擾測(cè)試
圖題:手機(jī)輻射騷擾測(cè)試

產(chǎn)生問(wèn)題的原因可能有以下幾個(gè)方面:

充電器和手機(jī)在最初的設(shè)計(jì)階段沒(méi)有充分的考慮電磁兼容性能; 在設(shè)計(jì)時(shí),沒(méi)有針對(duì)輻射騷擾和傳導(dǎo)騷擾的電磁兼容性進(jìn)行設(shè)計(jì)并采取相應(yīng)的對(duì)策; 充電器和手機(jī)選用的元器件的電磁兼容性不好或質(zhì)量達(dá)不到要求; 手機(jī)在選用充電器時(shí),沒(méi)有充分考慮手機(jī)和充電器間的電磁兼容性及手機(jī)和充電器的匹配性,手機(jī)是非線性負(fù)載,在振鈴及通話時(shí),如果電池電量不足而進(jìn)行充電時(shí),耗費(fèi)的能量很大,會(huì)有很大的沖擊電流,這樣如果選用的充電器不匹配或輸出電流過(guò)小,測(cè)試過(guò)程中會(huì)造成充電器滿負(fù)荷工作或超負(fù)荷工作而產(chǎn)生電磁兼容問(wèn)題,更嚴(yán)重甚至?xí)a(chǎn)生安全問(wèn)題。另外如果充電不正常,也會(huì)造成手機(jī)器件不正常工作而產(chǎn)生電磁兼容問(wèn)題。充電器和手機(jī)間的相互干擾也會(huì)造成測(cè)試結(jié)果超標(biāo); 在進(jìn)行測(cè)試前,手機(jī)和充電器沒(méi)有配合進(jìn)行電磁兼容預(yù)測(cè)試,充電器有可能單獨(dú)使用負(fù)載做了電磁兼容測(cè)試,測(cè)試的結(jié)果不能反應(yīng)與手機(jī)共同測(cè)試的結(jié)果。EFT測(cè)試過(guò)程中如出現(xiàn)問(wèn)題,可采用在充電器增加磁環(huán)或者電快速瞬變脈沖群濾波器的方法進(jìn)行整改,選用磁珠的內(nèi)徑越小、外徑越大、長(zhǎng)度越長(zhǎng)越好。采用加TVS管的整改方法作用有限;根據(jù)最新GB/T 17626.4-2008標(biāo)準(zhǔn)要求,重復(fù)頻率將增加100 kHz選項(xiàng),將會(huì)比5 kHz更為嚴(yán)酷,廠家應(yīng)及早重視進(jìn)行相關(guān)的電快速瞬變脈沖群測(cè)試防護(hù)工作。

輻射騷擾及傳導(dǎo)騷擾

輻射騷擾、傳導(dǎo)騷擾相關(guān)問(wèn)題的具體情況

輻射騷擾測(cè)試主要在30 MHz-100 MHz和200 MHz-900 MHz頻率范圍內(nèi)容易不合格,傳導(dǎo)騷擾則體現(xiàn)在5 MHz-30 MHz頻段范圍內(nèi)容易不合格。

輻射騷擾傳導(dǎo)騷擾相關(guān)問(wèn)題分析

輻射騷擾與傳導(dǎo)騷擾測(cè)試,是在使用充電器為手機(jī)充電,同時(shí)手機(jī)保持通信狀態(tài)以及最大發(fā)射功率情況下,進(jìn)行的電磁兼容測(cè)試。測(cè)試的結(jié)果是手機(jī)與充電器聯(lián)合工作的情況下的測(cè)試結(jié)果。不合格的原因可能是充電器造成的,也可能是手機(jī)本身造成的,也可能是手機(jī)與充電器聯(lián)合工作時(shí)兼容性不好而不合格。

產(chǎn)生問(wèn)題的原因可能有以下幾個(gè)方面:

充電器和手機(jī)在最初的設(shè)計(jì)階段沒(méi)有充分的考慮電磁兼容性能; 在設(shè)計(jì)時(shí),沒(méi)有針對(duì)輻射騷擾和傳導(dǎo)騷擾的電磁兼容性進(jìn)行設(shè)計(jì)并采取相應(yīng)的對(duì)策; 充電器和手機(jī)選用的元器件的電磁兼容性不好或質(zhì)量達(dá)不到要求; 手機(jī)在選用充電器時(shí),沒(méi)有充分考慮手機(jī)和充電器間的電磁兼容性及手機(jī)和充電器的匹配性,手機(jī)是非線性負(fù)載,在振鈴及通話時(shí),如果電池電量不足而進(jìn)行充電時(shí),耗費(fèi)的能量很大,會(huì)有很大的沖擊電流,這樣如果選用的充電器不匹配或輸出電流過(guò)小,測(cè)試過(guò)程中會(huì)造成充電器滿負(fù)荷工作或超負(fù)荷工作而產(chǎn)生電磁兼容問(wèn)題,更嚴(yán)重甚至?xí)a(chǎn)生安全問(wèn)題。另外如果充電不正常,也會(huì)造成手機(jī)器件不正常工作而產(chǎn)生電磁兼容問(wèn)題。充電器和手機(jī)間的相互干擾也會(huì)造成測(cè)試結(jié)果超標(biāo); 在進(jìn)行測(cè)試前,手機(jī)和充電器沒(méi)有配合進(jìn)行電磁兼容預(yù)測(cè)試,充電器有可能單獨(dú)使用負(fù)載做了電磁兼容測(cè)試,測(cè)試的結(jié)果不能反應(yīng)與手機(jī)共同測(cè)試的結(jié)果。

輻射騷擾傳導(dǎo)騷擾相關(guān)問(wèn)題的改進(jìn)建議

(1)在設(shè)計(jì)階段要充分考慮電磁兼容特性,合理考慮電路板的接地設(shè)計(jì),應(yīng)保持接地環(huán)路盡量小,使用網(wǎng)格接地,信號(hào)線或電源線盡量與地線靠近。設(shè)計(jì)過(guò)程中,對(duì)充電器和手機(jī)的充電端口采取濾波措施,對(duì)輻射發(fā)射敏感元器件采取屏蔽措施,增加屏蔽罩。

(2)選擇質(zhì)量好,電磁兼容特性好的元器件。

(3)優(yōu)化器件的位置、布局和布線。器件布局一直按照功能和器件類(lèi)型來(lái)對(duì)元器件進(jìn)行分組,例如,對(duì)既存在模擬電路、又存在數(shù)字器件的電路板,可將器件按工作電壓、頻率進(jìn)行分組布局;對(duì)給定的產(chǎn)品系列或電源電壓,可按功能對(duì)器件進(jìn)行分組。器件分組布局完畢后,必須根據(jù)元器件組電源電壓的差別,將電源層布置在各器件組的下方。如果有多層地,那么就必須把數(shù)字地層緊貼數(shù)字電源層,模擬地緊貼模擬電源層,模擬地和數(shù)字地要有一個(gè)共地點(diǎn)。通常,電路中存在A/D或D/A器件,這些轉(zhuǎn)換器件同時(shí)由模擬和數(shù)字電源供電,因此要將轉(zhuǎn)換器放置在模擬電源和數(shù)字電源之間。如果數(shù)字地和模擬地是分開(kāi)的,它們將在轉(zhuǎn)換器匯合。當(dāng)電路板按照器件系列和電源電壓分組時(shí),組內(nèi)信號(hào)的傳送不能跨越另外的器件組,如果信號(hào)跨過(guò)界限,就不能與其回流路徑緊密耦合,這樣會(huì)增大電路的環(huán)路面積,從而使電感增加,電容減小,進(jìn)而導(dǎo)致共模和差模干擾的增加。電路板設(shè)計(jì)過(guò)程中要避免出現(xiàn)各種隔離帶。雖然相距很近的一排通孔并不違反設(shè)計(jì)規(guī)則,但是,在電源層和地層上過(guò)多的通孔有時(shí)相當(dāng)于開(kāi)出一條隔離帶,要避免在該區(qū)域內(nèi)布線,例如,一個(gè)3 ns的信號(hào)回路如果偏離其信號(hào)源路徑0.40英寸,則過(guò)沖/欠沖和感生串?dāng)_會(huì)大增,足以使電路工作出現(xiàn)異常,并同時(shí)增加差模和共模干擾。

(4)充分考慮充電器與手機(jī)的兼容性和匹配性。充電器的輸出電流應(yīng)大于手機(jī)的峰值電流。在選擇匹配的充電器前,應(yīng)使用相應(yīng)的充電器配合手機(jī)進(jìn)行輻射騷擾和傳導(dǎo)騷擾預(yù)測(cè)試,驗(yàn)證兩者間的電磁兼容特性,選擇電磁兼容特性好的充電器。

(5)后期整改措施。對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行分析,聽(tīng)取電磁兼容測(cè)試工程師的建議。對(duì)于輻射騷擾測(cè)試,通過(guò)試驗(yàn)確認(rèn)是充電器對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響大還是手機(jī)的影響大。一般如果是低頻超出限值,則是充電器的影響大些,如果是高頻則可能手機(jī)的影響大;傳導(dǎo)騷擾測(cè)試也要確認(rèn)哪個(gè)影響是主要因素。

如果充電器的影響為主要因素,首先確認(rèn)充電器的各個(gè)器件是否正常工作;如果是某個(gè)器件有問(wèn)題,先更換相應(yīng)的器件后再進(jìn)行測(cè)試。增加濾波電容或改進(jìn)相應(yīng)的濾波電路,對(duì)輻射騷擾和傳導(dǎo)騷擾都會(huì)有改進(jìn)。

如果確認(rèn)是手機(jī)的問(wèn)題,確定超出頻率的來(lái)源,對(duì)相應(yīng)的器件進(jìn)行屏蔽處理:加強(qiáng)屏蔽特性;改進(jìn)屏蔽的接地;增加相應(yīng)的濾波電容或?qū)V波電路進(jìn)行調(diào)整;改進(jìn)相應(yīng)的匹配電路減少諧波或混頻干擾;加強(qiáng)手機(jī)的充電電路的濾波和接地,等等。

使用好的充電線纜,建議使用兩端都能接地的屏蔽線纜。

在手機(jī)側(cè)或充電器側(cè)加鐵氧體磁環(huán),對(duì)于輻射騷擾可能會(huì)有一定的改進(jìn),對(duì)于傳導(dǎo)騷擾有時(shí)影響不大,要根據(jù)測(cè)試的頻率,選擇磁環(huán)的相應(yīng)頻率。

綜上所述,對(duì)于輻射騷擾和傳導(dǎo)騷擾,應(yīng)把握以下原則:

a)注重設(shè)計(jì)階段的電磁兼容設(shè)計(jì);
b)注重充電器和手機(jī)的匹配;
c)選擇優(yōu)良的元器件。

要采購(gòu)轉(zhuǎn)換器么,點(diǎn)這里了解一下價(jià)格!
特別推薦
技術(shù)文章更多>>
技術(shù)白皮書(shū)下載更多>>
熱門(mén)搜索
?

關(guān)閉

?

關(guān)閉