在整個LED產(chǎn)業(yè)鏈中，從芯片一直到封裝、成品，均需要對產(chǎn)品的各項光電指標進行測試。而大部分LED廠商會發(fā)現(xiàn)，經(jīng)過測試以后，LED產(chǎn)品的壽命會受到一定影響，甚至有的在測試過程中就已經(jīng)直接報廢。這是為什么?當使用微小電流進行LED測試時，電流越小，等待LED點亮的時間就越長，測試效率非常低下。這又是為什么?國內(nèi)大部分的廠商都認為這是LED產(chǎn)品本身的特性所決定的，非人力所能改變，其實不然。目前，在歐美、日本、臺灣等LED產(chǎn)業(yè)相對發(fā)達的地區(qū)，各大LED廠商已經(jīng)開始選用LED測試專用電源供應器來應對這一問題。ITECH艾德克斯也專門推出了IT6200雙范圍可編程直流電源系列，搭配LED測試系統(tǒng)進行測試，可有效減少LED產(chǎn)品在測試過程中的壽命折損，同時提高測試效率，使產(chǎn)能得以最大化。

LED是英文Light Emitting Diode(發(fā)光二極管)的縮寫，它的基本結構是一塊電致發(fā)光的半導體材料，核心部分是由p型半導體和n型半導體組成的晶片，這種利用注入式電進行發(fā)光的二極管叫發(fā)光二極管，通稱LED。

圖1：利用注入式電進行發(fā)光的二極管叫發(fā)光二極管，通稱LED

LED Light bar測試

要使LED發(fā)光，就必須通電。因此在對LED產(chǎn)品的光電性能測試中，通常的做法是使用直流電源給LED產(chǎn)品供電，在LED被點亮的情況下完成各種參數(shù)的測試和記錄。以前，人們認為，直流電源只要能夠供電即可，所以為了節(jié)約設備成本而選用一般的電源供應器進行測試。而一般的LED產(chǎn)品，所允許通過的電流一般在30mA以內(nèi)，這是任何普通的電源供應器都無法做到的，因為在啟動的瞬間，不可避免的會產(chǎn)生巨大的突波電流，大大超出LED所能承受的電流范圍。大多數(shù)時候，由于這個突波電流的時間很短暫，并不會立刻燒毀LED，但是一定會對其壽命造成不可修復的損害(平均壽命降低20-30%)。這樣一來，對產(chǎn)品的質(zhì)量和口碑都是很不利的，會因此蒙受巨大的經(jīng)濟損失。

艾德克斯IT6200系列直流電源的優(yōu)勢在于，當需要進行LED產(chǎn)品測試時，開啟該電源獨特的LED mode，就可以有效的抑制啟動瞬間的突波電流，從而保護待測LED。如果使用艾德克斯IT6200系列直流電源進行測試，那么，LED產(chǎn)品的壽命就不會受到影響。

現(xiàn)在來做一個實驗，使用IT6200系列直流電源測試負載為170V的LED light bar。將LED light bar連接到IT6200系列直流電源上，在菜單中選擇LED mode;然后電流命令設定為Iset=10mA;啟動電源的on鍵，開始給light bar供電。示波器顯示IT6200系列電源的電流變化如下圖所示：

圖2：示波器顯示IT6200系列電源的電流變化

從圖中可以看出，當選擇了LED mode進行測試，IT6200直流電源系列在啟動時，電流非常平滑的上升到設定值，完全沒有突波電流產(chǎn)生，所以不會對LED產(chǎn)品的壽命造成任何影響。

如果不使用LED mode(相當于普通電源供應器)來進行同一測試，結果又會怎樣?不妨關閉IT6200系列電源的LED mode，來做一個同樣的測試。此時，示波器記錄下的電流變化如下圖所示：

圖3：示波器記錄下的電流變化

不難看出，在電源啟動的瞬間，產(chǎn)生約3.5mA的突波電流。而且，當測試電流越大，產(chǎn)生的突波電流也會跟隨著設定電流的上升而上升。如下是IT6200系列電源在20mA的設定電流下給同樣的LED light bar進行測試所得到的電流曲線。

從這個實驗中可以得出這樣的結論：艾德克斯IT6200系列直流電源可以將沒有突波的電流供應給LED，進而保護LED，提高LED產(chǎn)品的壽命。

LED背光源測試

LED產(chǎn)品往往工作在高電壓低電流的環(huán)境中，尤其是對于LED背光源一類的產(chǎn)品，通常會使用極其微小的電流來進行測試。而普通的電源在微小的電流輸出時會很容易進入限流模式，導致電壓上升時間延遲。當電流越小、電壓越高，則對應的上升時間就越長。艾德克斯IT6200系列直流電源，具有另一項獨特的測試模式——low current mode，可以解決這一問題。

low current mode，顧名思義：微電流模式。在此模式下，IT6200系列電源可以微小電流啟動，并且電壓高速上升。打開此模式后，輸出電壓的上升時間不會受微電流的大小改變而有所變動，大大加快電壓上升時間，縮短LED產(chǎn)品被點亮的時間，進而提高測試效率和產(chǎn)能。
例如，在對某電視機背光源的測試中，使用IT6200系列直流電源給其供電，測試在100mA的電流下進行，那么，在打開和關閉IT6200系列電源的low current mode時，其電壓變化波形分別如下兩幅圖所示：

在這兩幅圖中，左圖是啟用low current mode時的電壓上升曲線，右圖是未啟用該測試模式時的電壓上升曲線，對比兩幅圖中的電壓波形變化不難看出，當啟用low current mode時，電壓上升時間縮短，LED產(chǎn)品很快能夠被點亮。

如果測試的電流再小一些，結果又會如何?現(xiàn)在，再用IT6200系列電源來測試一款手機背光源，設定測試電流值1mA。下圖是分別打開和關閉IT6200系列電源的low current mode時，其電壓變化的曲線，可以看出，當測試電流更加微小時，如果不使用Low current mode(即相當于普通的電源)，則經(jīng)過很長一段時間的等待以后，電壓仍然無法上升到設定值，也就是說待測LED一直未被點亮，無法開始測試。而當使用了IT6200系列電源的low current mode以后，電壓快速上升到設定值，繼而點亮待測LED，開始進行測試。

目前，各大LED廠商已經(jīng)開始選用LED測試專用電源供應器來應對這一問題。搭配LED測試系統(tǒng)進行測試，可有效減少LED產(chǎn)品在測試過程中的壽命折損，同時提高測試效率，使產(chǎn)能得以最大化。

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第三講：LED驅動電源功率因數(shù)如何提高?
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第二講：LED驅動電源拓撲結構如何選擇？
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第一講：LED驅動電源設計的考慮要素及通用要求
http://www.gpag.cn/opto-art/80020756