驅(qū)動控制電路拓撲
   
圖1中，V8為振蕩電路產(chǎn)生的振蕩脈沖，其占空比為50％，由該脈沖決定開關(guān)器件的工作頻率。V1為原邊電流采樣電阻上的壓降，V2為輸出電壓的反饋值，V3是用于驅(qū)動開關(guān)管的信號。V2經(jīng)過PI調(diào)節(jié)器進行誤差放大后輸入到比較器的反向端，與輸入到比較器同向端的經(jīng)過誤差放大后的V1值進行比較，從而決定V3的脈寬大小。邏輯電路產(chǎn)生的信號經(jīng)過輸出級后用來驅(qū)動MOSFET的開通和關(guān)斷，該信號（V3）的占空比與輸出電壓的反饋值V2成反比，實現(xiàn)電壓反饋式的控制環(huán)，同時，該信號的占空比還與輸入的直流電壓值成反比，以實現(xiàn)電路的前饋控制。V3信號由經(jīng)過放大后的原邊電流的采樣電阻上的電壓值和經(jīng)過PI調(diào)節(jié)器的輸出電壓的反饋值共同來控制。圖2為各個反饋信號的誤差放大值、振蕩脈沖V8以及MOSFET的驅(qū)動信號V3波形。圖2中1）為振蕩脈沖V8的波形，2）為驅(qū)動信號V3的波形，3）、4）為電壓反饋和電流反饋值經(jīng)過誤差放大后的波形（V2和V1的波形）。

圖1：PWM邏輯電路及輸出電路   

由圖2可知，當反饋電流的誤差放大值V1大于反饋電壓的誤差值V2時，比較器就輸出高電平，驅(qū)動信號變成低電平，使MOSFET管關(guān)斷，直到下一個振蕩脈沖到來，MOSFET管才開通，因而可以看出，該電路采用的是電流的峰值控制。

圖2 ：PWM波形圖  

圖3為啟動電路圖。

圖3 ：啟動電路圖

該啟動電路由雙極性晶體管Q1，穩(wěn)壓二極管D1,D3和二極管D2以及電容C1構(gòu)成。在電路啟動的初期，輸入的直流電源通過雙極性晶體管Q1給電容C1充電，使電路開始工作。等到反饋的電壓值Feedback比電路中的穩(wěn)壓二極管D1的穩(wěn)壓值大時，雙極性晶體管Q1被關(guān)斷，該電路停止工作。PWM比較器的工作電壓由Feedback信號提供。這種電路的優(yōu)點是可以有效地減小損耗，而很多國外產(chǎn)品的啟動電路是由大電阻和電容構(gòu)成，因而在電阻上將會有一定的損耗。
   
在圖1的驅(qū)動控制電路中，我們還可以看到，該電路有逐周電流檢測功能。逐周的峰值漏極電流限制電路以原邊電流的采樣電阻作為檢測電阻。器件內(nèi)部的PI調(diào)節(jié)器的輸出值設(shè)有＋5V的電壓限制，而采樣電阻上的電壓值放大5倍后與PI調(diào)節(jié)器的輸出值進行比較，故設(shè)計電路時就可以精確地計算出電流峰值，通過選定采樣電阻值和原副邊的匝數(shù)比來進行電流限制。當MOSFET的漏極電流太大使采樣電阻上的壓降放大后超過＋5V的閾值時，MOSFET就會被關(guān)斷，直到下一個時鐘周期開始。

動態(tài)性能試驗
   
1）負載變化時輸出電壓的動態(tài)特性
   
當負載變化時，輸出電壓也在瞬間變化，然后反饋到控制引腳，器件內(nèi)部的控制電路就會做出相應(yīng)的調(diào)整，改變MOSFET器件開關(guān)的占空比，以實現(xiàn)輸出電壓穩(wěn)定的目的。
   
圖4（a）是負載變小時輸出電壓波形的變化情況。負載變小，輸出電壓變大，導致電壓反饋的誤差放大值變小，脈寬調(diào)制器的輸出波形的占空比變小，使輸出電壓變小，最終使輸出電壓趨向于穩(wěn)定值。此時，輸出電壓的反饋值為＋5V。
   
圖4（b）是負載變大時的輸出電壓波形。同理，可以分析出輸出電壓的變化過程。

圖4：負載變化時輸出電壓的動態(tài)特性圖 

在同一個輸入電壓不同負載情況下MOSFET器件的uDS的波形如圖5所示。

圖5：負載變化時開關(guān)管的uds波形

圖5上半部分是負載為40Ω時的波形，圖5下半部分是負載為30Ω時的波形。由圖5可知，在不同負載下，MOSFET器件開關(guān)的占空比是不相同的，負載大則MOSFET器件的導通時間長。
   
2）輸入電壓變化時輸出電壓的動態(tài)特性
   
當輸入電壓發(fā)生變化時，輸出電壓也會在瞬間隨著發(fā)生變化，由于輸入電壓的變化直接導致輸入電流的變化，在電流采樣電阻上的壓降的上升斜率隨著變化，可以直接導致輸出占空比的改變，同時，輸出電壓的反饋環(huán)節(jié)同樣起著調(diào)節(jié)作用。圖6為輸入電壓變化時輸出電壓的變化情況。
   
圖6（a）為輸入電壓由200V減小到150V時的輸出電壓的波形。從圖中可以看出，經(jīng)過短暫的時間調(diào)整后，輸出電壓重新趨向于穩(wěn)定值，并且輸出電壓的變化非常小。
   
圖6（b）為輸入電壓由150V變到200V時的輸出電壓波形。

圖6 ：輸入電壓變化時輸出電壓的動態(tài)特性

本文在給出反激電路拓撲的基礎(chǔ)上，通過實際的分立元器件搭構(gòu)實現(xiàn)該拓撲。給出多組試驗波形，以此分析了驅(qū)動控制電路的特點以及工作性能。試驗證明，這種電路控制方法簡潔，性能優(yōu)良。該電路不僅可以應(yīng)用于反激式電路，也可以應(yīng)用于正激式和其它DC/DC電路中。由于所有元器件由分立元器件搭構(gòu)，這就為將來的集成化，以至最終研制芯片提供了基礎(chǔ)，驗證了可行性。