【導(dǎo)讀】在電路設(shè)計(jì)中，開(kāi)關(guān)電源掌控著開(kāi)關(guān)管的開(kāi)通和關(guān)斷的時(shí)間比率，在電路中發(fā)揮著最基礎(chǔ)但是又不可取代的作用。正因?yàn)榉浅Ｖ匾?，所以開(kāi)關(guān)電源的測(cè)試也變得異常重要。在本文中，筆者詳細(xì)介紹了開(kāi)關(guān)電源需要測(cè)試的32個(gè)測(cè)試項(xiàng)以及測(cè)試所需的工具、測(cè)試方法和波形。
1、功率因素和效率測(cè)試
一、目的：
測(cè)試S.M.P.S. 的功率因素POWER FACTOR, 效率EFFICIENCY(規(guī)格依客戶(hù)要求設(shè)計(jì))。
二. 使用儀器設(shè)備：
(1). AC SOURCE / 交流電源；
(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載；
(3). DIGITAL VOLTAGE METER (DVM) / 數(shù)字式電壓表；
(4). AC POWER METER / 功率表。
三. 測(cè)試條件：
四、測(cè)試方法：
(1). 依規(guī)格設(shè)定測(cè)試條件: 輸入電壓, 頻率和輸出負(fù)載；
(2). 從POWER METER 讀取Pin and PF 值, 并讀取輸出電壓, 計(jì)算Pout；
(3). 功率因素=PIN / (Vin*Iin), 效率=Pout / Pin*100%。
五. 測(cè)試回路圖：
2.能效測(cè)試
一、目的：
測(cè)試S.M.P.S. 能效值是否滿(mǎn)足相應(yīng)的各國(guó)能效等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)要求(規(guī)格依各國(guó)標(biāo)準(zhǔn)要求定義)。
二. 使用儀器設(shè)備：
(1). AC SOURCE / 交流電源；
(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載；
(3). AC POWER METER / 功率表。
三. 測(cè)試條件：
(1). 輸入電壓條件為115Vac/60Hz和230Vac/50Hz與220Vac/50Hz/60Hz條件；
(2). 輸出負(fù)載條件為空載、1/4 max. load、2/4 max. load、3/4 max. load、max. load五種負(fù)載條件。
四、測(cè)試方法：
(1).在測(cè)試前將產(chǎn)品在在其標(biāo)稱(chēng)輸出負(fù)載條件下預(yù)熱30分鐘；
(2). 按負(fù)載由大到小順序分別記錄115Vac/60Hz與230Vac/50Hz輸入時(shí)的輸入功率(Pin),輸入電流(Iin),輸出電壓(Vo), 功率因素(PF)，然后計(jì)算各條件負(fù)載的效率；
(3). 在空載時(shí)僅需記錄輸入功率(Pin)與輸入電流(Iin)；
(4).計(jì)算115Vac/60Hz與230Vac/50Hz時(shí)的四種負(fù)載的平均效率,該值為能效的效率值。
五、標(biāo)準(zhǔn)定義：
CEC / 美國(guó)EPA / 澳大利亞及新西蘭的能效規(guī)格值標(biāo)準(zhǔn)(IV等級(jí))。
(1). IV等級(jí)效率的規(guī)格是: 1).Po<1W, Average Eff.≥0.5*Po；
(2).1≤Po≤51W,Average Eff.≥0.09*Ln(Po)+0.5; 3).Po>51,Average Eff.≥0.85；
(3). 輸入空載功率的規(guī)格是:1).0<Po≤250W, Pin≤0.5W；
(4). Po為銘牌標(biāo)示的額定輸出電壓與額定輸出電流的乘積；
(5) .實(shí)際測(cè)試的平均效率值和輸入空載功率值需同時(shí)滿(mǎn)足規(guī)格要求才可符合標(biāo)準(zhǔn)要求。
六、計(jì)算方法舉例：
(1).12V/1A的能效效率=(0.09*ln12+0.5 )*100%= (0.09*2.4849+0.5)*100%=72.36%；
(2). 輸入功率≤ 0.5W；
3. 輸入電流測(cè)試
一、目的：
測(cè)試S.M.P.S. 之輸入電流有效值INPUT CURRENT(規(guī)格依客戶(hù)要求設(shè)計(jì))。
二. 使用儀器設(shè)備：
(1). AC SOURCE / 交流電源；
(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載；
(3). AC POWER METER / 功率表。
三. 測(cè)試條件：
四、測(cè)試方法：
(1). 依規(guī)格設(shè)定測(cè)試條件: 輸入電壓, 頻率和輸出負(fù)載；
(2). 從功率計(jì)中記錄AC INPUT 電流值。
4.浪涌電流測(cè)試
一、目的：
測(cè)試S.M.P.S. 輸入浪涌電流INRUSH CURRENT, 是否符合SPEC.要求。
二. 使用儀器設(shè)備：
(1). AC SOURCE / 交流電源；
(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載；
(3). OSCILLOSCOPE / 示波器。
三. 測(cè)試條件：
(1).依SPEC. 所要求(通常定義輸入電壓為100-240Vac/50-60Hz)。
四、測(cè)試方法：
(1). 依SPEC. 要求設(shè)定好輸入電壓, 頻率, 將待測(cè)品輸出負(fù)載設(shè)定在MAX. LOAD；
(2). SCOPE CH2 接CURRENT PROBE, 用以量測(cè)INRUSH CURRENT, CH1設(shè)定在DC Mode, VOLTS/DIV 設(shè)定視情況而定, CH1作為SCOPE 之TRIGGER SOURCE, TRIGGER SLOPE 設(shè)定為"+", TIME/DIV 以5mS 為較佳, TRIGGER MODE 設(shè)定為"NORMAL"；
(3). CH1 則接到AC 輸入電壓；
(4). 以上設(shè)定完成后POWER ON, 找出TRIGGER 動(dòng)作電流值(AT 90o 或270o POWER ON)。
五、注意事項(xiàng)：
(1). 冷開(kāi)機(jī)(COLD-START): 需在低(常)溫環(huán)境下且BULK Cap.電荷須放盡, 以及熱敏電阻亦處于常溫下, 然后僅能第一次開(kāi)機(jī),若需第二次開(kāi)機(jī)須再待電荷放盡才可再開(kāi)機(jī)測(cè)試；
(2). OSCILLOSCOPE 需使用隔離變壓器。
六、測(cè)試回路圖：
5. 電壓調(diào)整率測(cè)試
一、目的：
測(cè)試S.M.P.S. OUTPUT LOAD 一定而AC LINE 變動(dòng)時(shí), 其輸出電壓跟隨變動(dòng)之穩(wěn)定性(常規(guī)定義≤1%)。
二. 使用儀器設(shè)備：
(1). AC SOURCE / 交流電源；
(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載；
(3). DIGITAL VOLTAGE METER (DVM) / 數(shù)字式電壓表。
三. 測(cè)試條件：
四、測(cè)試方法：
(1). 依規(guī)格設(shè)定測(cè)試負(fù)載LOAD 條件；
(2). 調(diào)整輸入電壓AC LINE 和頻率FREQUENCY 值；
(3). 記錄待測(cè)品輸出電壓值是否在規(guī)格內(nèi)；
(4). Line reg.=(輸出電壓的最大值(Vmax.)-輸出電壓的最小值(Vmin.))/Vrate volt.*100%。
五. 注意事項(xiàng)：
(1). 測(cè)試前先將待測(cè)品熱機(jī), 待其輸出電壓穩(wěn)定后再進(jìn)行測(cè)試；
(2). 電壓調(diào)整率值是輸出負(fù)載不變,輸入電壓變動(dòng)時(shí)計(jì)算的值。
6.負(fù)載調(diào)整率測(cè)試
一、目的：
測(cè)試S.M.P.S. 在AC LINE 一定而OUTPUT LOAD 變動(dòng)時(shí), 其輸出電壓跟隨變動(dòng)之穩(wěn)定性(常規(guī)定義≤±5%)。
二. 使用儀器設(shè)備：
(1). AC SOURCE / 交流電源；
(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載；
(3). DIGITAL VOLTAGE METER (DVM) / 數(shù)字式電壓表。
三. 測(cè)試條件：
四、測(cè)試方法：
(1). 依規(guī)格設(shè)定測(cè)試輸入電壓AC LINE 和頻率FREQUENCY 值；
(2). 調(diào)整輸出負(fù)載LOAD 值；
(3). 記錄待測(cè)品輸出電壓值是否在規(guī)格內(nèi)；
(4). Load reg.=(輸出電壓的最大/小值(Vmax/min.)-輸出電壓的額定值(Vrate))/Vrate volt.*100%。
五. 注意事項(xiàng)：
(1). 測(cè)試前先將待測(cè)品熱機(jī), 待其輸出電壓穩(wěn)定后再進(jìn)行測(cè)試；
(2). 負(fù)載調(diào)整率值是輸入電壓不變,輸出負(fù)載變動(dòng)時(shí)計(jì)算的值。
7. 輸入緩慢變動(dòng)測(cè)試
一、目的：
驗(yàn)證當(dāng)輸入電壓偏低情形發(fā)生時(shí), 待測(cè)品需能自我保護(hù), 且不能有損壞現(xiàn)象。
二. 使用儀器設(shè)備：
(1). AC SOURCE / 交流電源；
(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載；
(3). AC POWER METER / 功率表。
三. 測(cè)試條件：
(1). 依SPEC. 要求: 設(shè)定輸入電壓為90Vac 或180Vac 和輸出負(fù)載Max. load。
四、測(cè)試方法：
(1). 將待測(cè)品與輸入電源和電子負(fù)載連接好, 且設(shè)定好輸入電壓和輸出負(fù)載；
(2). 逐步調(diào)降輸入電壓, 每次3 Vac/每分鐘；
(3). 記錄電壓值(包括輸入電壓和輸出電壓), 直到待測(cè)品自動(dòng)當(dāng)機(jī)為止；
(4). 設(shè)定好輸入電壓為0Vac,逐步調(diào)升輸入電壓, 每次3 Vac/每分鐘,直到待測(cè)品輸出電壓達(dá)到正常規(guī)格為止,記錄電壓?jiǎn)?dòng)時(shí)輸出電壓和輸入電壓值。
五、注意事項(xiàng)：
(1). 待測(cè)品在正常操作情況下不應(yīng)有任何不穩(wěn)動(dòng)作發(fā)生, 以及失效情形；
(2). 產(chǎn)品當(dāng)機(jī)和啟動(dòng)時(shí)的輸入電壓需小于輸入電壓范圍下限值。
8. 紋波及噪聲測(cè)試
一、目的：
測(cè)試S.M.P.S. 直流輸出電壓之紋波RIPPLE 及噪聲NOISE(規(guī)格定義常規(guī)為≤輸出電壓的1%)。
二. 使用儀器設(shè)備：
(1). AC SOURCE / 交流電源；
(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載；
(3) OSCILLOSCOPE / 示波器；
(4) TEMP. CHAMBER / 溫控室。
三. 測(cè)試條件：
各種LINE 和LOAD 條件及溫度條件, 各種輸入電壓& 輸出負(fù)載(Min.-MAX. LOAD)。
四、測(cè)試方法：
(1). 按測(cè)試回路接好各測(cè)試儀器,設(shè)備,以及待測(cè)品,測(cè)試電源在各種LINE 和LOAD,及溫度條件之RIPPLE &NOISE(下圖為一典型輸出RIPPLE & NOISE A: RIPPLE+NOISE; B: RIPPLE; C: NOISE。
五、注意事項(xiàng)：
(1). 測(cè)試前先將待測(cè)輸出并聯(lián)SPEC. 規(guī)定的濾波電容, (通常為10uF/47uF電解電容;或鉭電容及0.1uF陶瓷電容) 頻寬限制依SPEC. 而定(通常為20MHz)；
(2). 應(yīng)避免示波器探頭本身干擾所產(chǎn)生的雜訊。
9.上升時(shí)間測(cè)試
一、目的：
測(cè)試S.M.P.S. POWER ON 時(shí),各組輸出從10% ~ 90% POINT 之上升時(shí)間(常規(guī)定義為≤20mS)。
二. 使用儀器設(shè)備：
(1). AC SOURCE / 交流電源；
(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載；
(3). OSCILLOSCOPE / 示波器。
三. 測(cè)試條件：
四、測(cè)試方法：
(1). 依規(guī)格設(shè)定AC VOLTAGE, FREQUENCY AND LOAD；
(2). SCOPE 的CH1 接Vo, 并設(shè)為T(mén)RIGGER SOURCE, LEVEL 設(shè)定在Vo 的60% ~ 80% 較為妥當(dāng), TRIGGER SLOPE 設(shè)定在"+",TIME/DIV 和VOLTS/DIV 則視輸出電壓情況而定；
(3). 用CURSOR 中"TIME", 量測(cè)待測(cè)品各組輸出從電壓10% 至90% 之上升時(shí)間。
五. 注意事項(xiàng)：
測(cè)試前先將待測(cè)品處于冷機(jī)狀態(tài),待BUCK Cap. 電荷放盡后進(jìn)行測(cè)試。
10. 下降時(shí)間測(cè)試
一、目的：
測(cè)試S.M.P.S. POWER ON 時(shí),各組輸出從90% ~ 10% POINT 之下降時(shí)間(常規(guī)定義≥5mS)。
二. 使用儀器設(shè)備：
(1). AC SOURCE / 交流電源；
(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載；
(3). OSCILLOSCOPE / 示波器。
三. 測(cè)試條件：
四、測(cè)試方法：
(1). 依規(guī)格設(shè)定AC VOLTAGE, FREQUENCY AND LOAD；
(2). SCOPE 的CH1 接Vo, 并設(shè)為T(mén)RIGGER SOURCE, LEVEL 設(shè)定在Vo 的60% ~ 80% 較為妥當(dāng), TRIGGER SLOPE 設(shè)定在"-",TIME/DIV 和VOLTS/DIV 則視輸出電壓情況而定；
(3). 用CURSOR 中"TIME", 量測(cè)待測(cè)品各組輸出從電壓90% 至10% 之下降時(shí)間。
五. 注意事項(xiàng)：
測(cè)試前先將待測(cè)品熱機(jī), 待其輸出電壓穩(wěn)定后再進(jìn)行測(cè)試。
11. 開(kāi)機(jī)延遲時(shí)間測(cè)試
一、目的：
測(cè)試S.M.P.S. POWER ON 時(shí), 輸入電壓AC LINE 與輸出之時(shí)間差(常規(guī)定義為≤3000mS)。
二. 使用儀器設(shè)備：
(1). AC SOURCE / 交流電源；
(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載；
(3). OSCILLOSCOPE / 示波器。
三. 測(cè)試條件：
四、測(cè)試方法：
(1). 測(cè)試時(shí)依規(guī)格設(shè)定AC LINE, FREQUENCY 和輸出負(fù)載(一般LOW LINE & MAX. LOAD時(shí)間最長(zhǎng))；
(2). OSCILLOSCOPE 的CH1 接Vo 為T(mén)RIGGER SOURCE, CH2 接AC LINE；
(3). TRIGGER LEVEL 設(shè)定在Vo 的60% ~ 80% 間較為妥當(dāng), TRIGGER SLOPE 設(shè)定在"+",VOLTS/DIV 和TIME/DIV 則視實(shí)際情況而定；
(4). 用CURSOR 中"TIME", 量測(cè)AC ON 至Vo LOW LIMIT 之時(shí)間差。
五. 注意事項(xiàng)：
(1). 測(cè)試前先將待測(cè)品處于冷機(jī)狀態(tài), 待BULK Cap. 電荷放盡后進(jìn)行測(cè)試；
(2). 示波器(OSCILLOSCOPE) 需使用隔離變壓器。
12. 關(guān)機(jī)維持時(shí)間測(cè)試
一、目的：
測(cè)試S.M.P.S. POWER OFF 時(shí), 輸入電壓AC LINE 與輸出OUTPUT 之時(shí)間差(常規(guī)定義≥10mS/115Vac & ≥20mS/230Vac )。
二. 使用儀器設(shè)備：
(1). AC SOURCE / 交流電源；
(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載；
(3). OSCILLOSCOPE / 示波器。
三. 測(cè)試條件：
四、測(cè)試方法：
(1). 測(cè)試時(shí)依規(guī)格設(shè)定AC LINE, FREQUENCY 和輸出負(fù)載；
(2). OSCILLOSCOPE 的CH1 接Vo 為T(mén)RIGGER SOURCE, CH2 接ACLINE；
(3). TRIGGER LEVEL 設(shè)定在Vo 的60% ~ 80% 間較為妥當(dāng), TRIGGER SLOPE 設(shè)定在“-”, VOLTS/DIV 和TIME/DIV 則視實(shí)際情況而定；
(4). 用CURSOR 中"TIME", 量測(cè)AC ON 至Vo LOW LIMIT 之時(shí)間差；
五. 注意事項(xiàng)：
(1). 測(cè)試前先將待測(cè)品熱機(jī), 待其輸出電壓穩(wěn)定后再進(jìn)行測(cè)試；
(2). 示波器(OSCILLOSCOPE) 需使用隔離變壓器。
13. 輸出過(guò)沖幅度測(cè)試
一、目的：
測(cè)試S.M.P.S. POWER ON 時(shí), 輸出DC OUTPUT 過(guò)沖幅度變化量(常規(guī)定義為≤10%)。
二. 使用儀器設(shè)備：
(1). AC SOURCE / 交流電源；
(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載；
(3). OSCILLOSCOPE / 示波器。
三. 測(cè)試條件：
依SPEC. 所要求,輸入電壓范圍與輸出負(fù)載(Min. – Max. load)。
四、測(cè)試方法：
(1). 測(cè)試時(shí)依規(guī)格設(shè)定AC LINE, FREQUENCY 和輸出負(fù)載；
(2). OSCILLOSCOPE 的CH1 接Vo 為T(mén)RIGGER SOURCE；
(3). TRIGGER LEVEL 設(shè)定在Vo 的60% ~ 80% 間較為妥當(dāng), TRIGGER SLOPE 設(shè)定在“+” 和“-”, VOLTS/DIV 和TIME/DIV 則視實(shí)際情況而定；
(4). 用CURSOR 中"VOLT", 量測(cè)待測(cè)品輸出過(guò)沖點(diǎn)與穩(wěn)定值之關(guān)系；
(5). ON / OFF 各做十次, 過(guò)沖幅度%=△V / Vo *100%。
五、注意事項(xiàng)：
產(chǎn)品在CC與CR模式都需滿(mǎn)足規(guī)格要求。
14. 輸出暫態(tài)響應(yīng)測(cè)試
一、目的：
測(cè)試S.M.P.S. 輸出負(fù)載快速變化時(shí), 其輸出電壓跟隨變動(dòng)之穩(wěn)定性(規(guī)格定義電壓最大與最小值不超過(guò)輸出規(guī)格的±10%)。
二. 使用儀器設(shè)備：
(1). AC SOURCE / 交流電源；
(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載；
(3). OSCILLOSCOPE / 示波器。
三. 測(cè)試條件：
依SPEC.所規(guī)定: 輸入電壓AC LINE, 變化的負(fù)載LOAD, 頻率及升降斜率SR/F 值。
四、測(cè)試方法：
(1). 測(cè)試時(shí)設(shè)定好待測(cè)品輸入電壓AC LINE 和頻率FREQUENCY；
(2). 測(cè)試時(shí)設(shè)定好待測(cè)品輸出條件: 變化負(fù)載和變化頻率及升降斜率；
(3). OSCILLOSCOPE CH1 接到OUTPUT 偵測(cè)點(diǎn), 量其電壓之變化；
(4). CH2 接CURRENT PROBE 測(cè)試輸出電流, 作為OSCILLOSCOPE 之TRIGGER SOURCE；
(5). TRIGGER MODE設(shè)定為"AUTO."。
五、注意事項(xiàng)：
(1). 注意使用CURRENT PROBE 時(shí),每改變VOLTS/DIV 刻度PROBE 皆須歸零ZERO；
(2). 須經(jīng)常對(duì)CURRENT PROBE 進(jìn)行消磁DEGAUSS 和歸零ZERO。
15. 過(guò)流保護(hù)測(cè)試
一、目的：
測(cè)試S.M.P.S. 輸出電流過(guò)高時(shí)是否保護(hù), 保護(hù)點(diǎn)是否在規(guī)格要求內(nèi), 及是否會(huì)對(duì)S.M.P.S. 造成損傷(常規(guī)定義過(guò)流點(diǎn)為輸出額定負(fù)載的1.2-2.5倍/ CV模式產(chǎn)品初外)。
二. 使用儀器設(shè)備：
(1). AC SOURCE / 交流電源；
(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載；
(3). OSCILLOSCOPE / 示波器；
三. 測(cè)試條件：
依SPEC. 所規(guī)定: 輸入電壓AC LINE 和電子負(fù)載。
四、測(cè)試方法：
(1). 將待測(cè)組輸出負(fù)載設(shè)在MAX. LOAD；
(2). 以一定的斜率(通常為1.0A/S) 遞增, 加大輸出電流直至電源保護(hù), 當(dāng)保護(hù)后, 將所加大之電流值遞減, 視其輸出是否會(huì)自動(dòng)RECOVERY；
(3). OSCILLOSCOPE CH2 接上CURRENT PROBE, 以PROBE 檢測(cè)輸出電流；
(4). CH1 則接到待測(cè)輸出電壓, 作為OSCILLOSCOPE 之TRIGGER SOURCE；
(5). TRIGGER SLOPE 設(shè)定為"-", TRIGGER MODE 設(shè)定為"AUTO", TIME/DIV 視情況而定。
五、注意事項(xiàng)：
(1). 注意使用CURRENT PROBE 時(shí),每改變VOLTS/DIV 刻度PROBE 皆須歸零ZERO；
(2). 須經(jīng)常對(duì)CURRENT PROBE 進(jìn)行消磁DEGAUSS 和歸零ZERO；
(3). 產(chǎn)品不能有安全危險(xiǎn)產(chǎn)生。
16. 短路保護(hù)測(cè)試
一、目的：
測(cè)試S.M.P.S. 輸出端在開(kāi)機(jī)前或在工作中短路時(shí), 產(chǎn)品是否有保護(hù)功能。
二. 使用儀器設(shè)備：
(1). AC SOURCE / 交流電源；
(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載；
(3). OSCILLOSCOPE / 示波器；
(4). 低阻抗短路夾。
三. 測(cè)試條件：
依SPEC. 所規(guī)定: 輸入電壓AC LINE 和負(fù)載LOAD 值和低阻抗短路夾。
四、測(cè)試方法：
(1). 依規(guī)格設(shè)定測(cè)試條件: 輸入電壓AC LINE 和負(fù)載LOAD 值(一般為MAX.LOAD)；
(2). 各組輸出相互短路或?qū)Φ囟搪? 偵測(cè)輸出特性；
(3). 開(kāi)機(jī)后短路TURN ON THEN SHORT & 短路后開(kāi)機(jī)SHORT THEN TURN ON 各十次。
五、注意事項(xiàng)：
(1).當(dāng)SHORT CIRCUIT 排除之后, 檢測(cè)待測(cè)品是否自動(dòng)恢復(fù)或需重新啟動(dòng)(視SPEC 要求),并測(cè)試產(chǎn)品是否正?；蛴袩o(wú)零件損壞(產(chǎn)品要求應(yīng)正常)；
(2). 產(chǎn)品不能有安全危險(xiǎn)產(chǎn)生。
17. 過(guò)壓保護(hù)測(cè)試
一、目的：
測(cè)試S.M.P.S. 輸出電壓過(guò)高時(shí)是否保護(hù), 保護(hù)點(diǎn)是否在規(guī)格要求內(nèi), 及是否會(huì)對(duì)S.M.P.S. 造成損傷(常規(guī)定義:Vout<12V,過(guò)壓保護(hù)點(diǎn)為1.8倍輸出電壓; Vout≥12V,.過(guò)壓保護(hù)點(diǎn)為1.5倍輸出電壓)。
二. 使用儀器設(shè)備：
(1). AC SOURCE / 交流電源；
(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載；
(3). OSCILLOSCOPE / 示波器；
(4). DC SOURCE / 直流電源。
三. 測(cè)試條件：
依SPEC. 所規(guī)定: 輸入電壓AC LINE 和負(fù)載LOAD 值。
四、測(cè)試方法：
(1). 測(cè)試方式一: 拿掉待測(cè)品回授FEEDBACK, 找出過(guò)壓保護(hù)OVP 點(diǎn)；
(2). 測(cè)試方式二: 外加一可變電壓于操作待測(cè)品的輸出, 緩慢增大電壓值, 找出過(guò)壓保護(hù)OVP 點(diǎn)；
(3). OSCILLOSCOPE CH1 接到OVP 偵測(cè)點(diǎn), 測(cè)量其電壓之變化；
(4). CH2 則接到其它一組輸出電壓, 作為OSCILLOSCOPE 之TRIGGER SOURCE；
(5). TRIGGER SLOPE 設(shè)定為"-", TRIGGER MODE 設(shè)定為"NORMAL"。
五、注意事項(xiàng)：
產(chǎn)品不能有安全危險(xiǎn)產(chǎn)生。
18. 重輕載變化測(cè)試
一、目的：
測(cè)試S.M.P.S. 的輸出負(fù)載在重輕載切換時(shí)對(duì)輸出電壓的影響(規(guī)格定義電壓最大與最小值不超過(guò)輸出規(guī)格的±10%)。
二. 使用儀器設(shè)備：
(1). AC SOURCE / 交流電源；
(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載；
(3). OSCILLOSCOPE / 示波器。
三. 測(cè)試條件：
依SPEC. 所規(guī)定: 輸入電壓AC LINE 和負(fù)載LOAD(MIN. AND MAX.) 值。
四、測(cè)試方法：
(1). 依規(guī)格設(shè)定AC VOLTAGE, FREQUENCY AND LOAD (MAX. LOAD 和MIN. LOAD)；
(2). SCOPE 的CH1 接Vo, 并設(shè)為T(mén)RIGGER SOURCE, LEVEL 設(shè)定在Vo 的90% ~ 100% 較為妥當(dāng), TRIGGER SLOPE 設(shè)定在"+",VOLTS/DIV 則視輸出電壓情況而定；
(3). TIME/DIV 設(shè)定為1S/DIV 或2S/DIV,為滾動(dòng)狀態(tài)；
(4). 在輸入電壓穩(wěn)定時(shí),變化輸出負(fù)載(最大/最小)；
(5). 在設(shè)定電壓下測(cè)試輸出電壓的最大和最小值。
五、注意事項(xiàng)：
無(wú)
19. 輸入電壓變動(dòng)測(cè)試
一、目的：
測(cè)試S.M.P.S. 的輸入電壓在規(guī)格要求內(nèi)變動(dòng)時(shí),是否會(huì)對(duì)S.M.P.S. 造成損傷或輸出不穩(wěn)定。
二. 使用儀器設(shè)備：
(1). AC SOURCE / 交流電源；
(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載；
(3). OSCILLOSCOPE / 示波器。
三. 測(cè)試條件：
依SPEC. 所規(guī)定: 輸入電壓AC LINE 和負(fù)載LOAD 值。
四、測(cè)試方法：
(1). 將待測(cè)輸出負(fù)載設(shè)在MAX. LOAD 和MIN. LOAD；
(2). TRIGGER SLOPE 設(shè)定為"+", TRIGGER MODE 設(shè)定為"AUTO", TIME/DIV 視情況而定1S/DIV 或2S/DIV；
(3). 變動(dòng)輸入電壓,如:90Vac-180Vac;115Vac-230Vac;132Vac-264Vac;0-90Vac…… 0-264Vac；
(4). 測(cè)試輸出電壓在輸入電壓變動(dòng)時(shí)的最大值和最小值。
五、注意事項(xiàng)：
輸出電壓變動(dòng)的范圍應(yīng)在規(guī)格電壓要求內(nèi)。
20.電源開(kāi)關(guān)循環(huán)測(cè)試
一、目的：
測(cè)試S.M.P.S. 是否能承受連續(xù)開(kāi)關(guān)操作下的沖擊。
二. 使用儀器設(shè)備：
(1). AC SOURCE / 交流電源；
(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載；
(3). OSCILLOSCOPE / 示波器；
(4) POWER ON/OFF TESTER / 電源開(kāi)關(guān)測(cè)試儀。
三. 測(cè)試條件：
(1). 輸入電壓: 115Vac/230Vac 輸出負(fù)載: 滿(mǎn)載；
(2). ON/OFF時(shí)間: ON 5秒/ OFF 5秒ON/OFF CYCLE：AT LEAST 5000 CYCLE；
(3). 環(huán)境溫度: 室溫。
四、測(cè)試方法：
(1). 連接待測(cè)品到電源開(kāi)/關(guān)測(cè)試儀及電源. (115Vac和230Vac &滿(mǎn)載, 或依客戶(hù)規(guī)格執(zhí)行)；
(2). S.M.P.S OFF 5秒及ON 5秒為一周期,總共測(cè)試周期: 5000 CYCLES；
(3). 測(cè)試過(guò)程中每完成1000周期時(shí),記錄產(chǎn)品的輸入功率和輸出電壓；
(4). 待試驗(yàn)結(jié)束后,確定待測(cè)品在試驗(yàn)前后電氣性能是否有差異。
五、注意事項(xiàng)：
測(cè)試過(guò)程中或測(cè)試完成階段, 待測(cè)品都需能正常操作且不應(yīng)有任何性能降低情況發(fā)生。
21.元件溫升測(cè)試
一、目的：
測(cè)試S.M.P.S. 在規(guī)格操作環(huán)境, 電壓, 頻率和負(fù)載條件時(shí), 元件的溫升狀況。
二. 使用儀器設(shè)備：
(1). AC SOURCE / 交流電源；
(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載；
(3). HYBRID RECORDER / 混合記錄儀(DR130)；
(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室。
三. 測(cè)試條件：
依SPEC. 規(guī)定: 輸入電壓AC LINE, 頻率FREQUENCY, 輸出負(fù)載LOAD 及環(huán)境溫度。
四、測(cè)試方法：
(1). 依線(xiàn)路情況先確定溫升較高的元件, 后用溫升線(xiàn)粘貼所確定的元件；
(2). 依規(guī)格設(shè)定好測(cè)試條件(AC LINE AND OUTPUT LOAD) 再開(kāi)機(jī), 并記錄輸入功率和輸出電壓；
(3). 用混合記錄儀HYBRID RECORDER 記錄元件的溫升曲線(xiàn), 待元件溫升完全穩(wěn)定后打印結(jié)果,并記錄輸入功率和輸出電壓。
五、注意事項(xiàng)：
(1). 溫升線(xiàn)耦合點(diǎn)應(yīng)盡量貼著元件測(cè)試點(diǎn), 溫升線(xiàn)走勢(shì)應(yīng)盡量避免影響S.M.P.S 元件的散熱；
(2). 測(cè)試的樣品應(yīng)模擬其實(shí)際的或在系統(tǒng)中的擺放狀態(tài)；
(3). 針對(duì)于無(wú)風(fēng)扇( NO FAN)的產(chǎn)品, 測(cè)試時(shí)應(yīng)盡量避免外界風(fēng)流動(dòng)對(duì)它的影響。
22. 高溫操作測(cè)試
一、目的：
測(cè)試高溫環(huán)境對(duì)S.M.P.S. 操作過(guò)程中的結(jié)構(gòu), 元件及整機(jī)電氣的影響, 用以考量S.M.P.S. 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及零件選用的合理性。
二. 使用儀器設(shè)備：
(1). AC SOURCE / 交流電源；
(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載；
(3). AC POWER METER / 功率表；
(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室；
(5). HI-POT TESTER / 高壓測(cè)試儀。
三. 測(cè)試條件：
(1). 依SPEC.要求: 輸入條件(RATED VOLTAGE), 輸出負(fù)載(FULL LOAD) 和操作溫度OPERATION TEMP (通常為溫度: 40℃)；
(2). 試驗(yàn)時(shí)間: 4Hrs。
四、測(cè)試方法：
(1). 將待測(cè)品置于溫控室內(nèi), 依規(guī)格設(shè)定好輸入輸出測(cè)試條件, 然后開(kāi)機(jī)；
(2). 依規(guī)格設(shè)定好溫控室的溫度和濕度,然后啟動(dòng)溫控室；
(3). 定時(shí)記錄待測(cè)品輸入功率和輸出電壓,以及待測(cè)品是否有異常；
(4). 做完測(cè)試后回溫到室溫,再將待測(cè)品從溫控室中移出, 在常溫環(huán)境下至少恢復(fù)4小時(shí)。
五、注意事項(xiàng)：
(1). 產(chǎn)品試驗(yàn)期間與試驗(yàn)后,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象；
(2). 試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻測(cè)試需符合規(guī)格書(shū)要求。
23. 高溫高濕儲(chǔ)存測(cè)試
一、目的：
測(cè)試高溫高濕儲(chǔ)存環(huán)境對(duì)S.M.P.S. 的結(jié)構(gòu), 元件及整機(jī)電氣的影響, 以考量S.M.P.S. 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及零件選用的合理性。
二. 使用儀器設(shè)備：
(1). AC SOURCE / 交流電源；
(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載；
(3). AC POWER METER / 功率表；
(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室；
(5). HI-POT TESTER / 高壓測(cè)試儀。
三. 測(cè)試條件：
儲(chǔ)存高溫高濕條件: 通常為溫度70±2℃, 濕度90-95% 試驗(yàn)時(shí)間24Hrs(非操作條件)。
四、測(cè)試方法：
(1). 試驗(yàn)前記錄待測(cè)品輸入功率, 輸出電壓及HI-POT 狀況；
(2). 將確認(rèn)后的待測(cè)品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi), 依規(guī)格設(shè)定其溫度和濕度,然后啟動(dòng)溫控室；
(3). 試驗(yàn)24Hrs, 試驗(yàn)結(jié)束后在空氣中放置至少4Hrs,再確認(rèn)待測(cè)品外觀(guān), 結(jié)構(gòu)及電氣性能是否有異常。
五、注意事項(xiàng)：
(1). 產(chǎn)品試驗(yàn)期間與試驗(yàn)后,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象；
(2). 試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻測(cè)試需符合規(guī)格書(shū)要求。
24. 低溫操作測(cè)試
一、目的：
測(cè)試低溫環(huán)境對(duì)S.M.P.S. 操作過(guò)程中的結(jié)構(gòu), 元件及整機(jī)電氣的影響, 用以考量S.M.P.S. 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及零件選用的合理性。
二. 使用儀器設(shè)備：
(1). AC SOURCE / 交流電源；
(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載；
(3). AC POWER METER / 功率表；
(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室；
(5). HI-POT TESTER / 高壓測(cè)試儀。
三. 測(cè)試條件：
(1). 依SPEC.要求: 輸入條件(RATED VOLTAGE), 輸出負(fù)載(FULL LOAD) 和操作溫度(OPERATION TEMP.),通常溫度為:(0℃)；
(2). 試驗(yàn)時(shí)間: 4Hrs。
四、測(cè)試方法：
(1). 將待測(cè)品置于溫控室內(nèi), 依規(guī)格設(shè)定好輸入輸出測(cè)試條件, 然后開(kāi)機(jī)；
(2). 依規(guī)格設(shè)定好溫控室的溫度,然后啟動(dòng)溫控室；
(3). 定時(shí)記錄待測(cè)品輸入功率和輸出電壓,以及待測(cè)品是否有異常；
(4). 做完測(cè)試后將待測(cè)品從溫控室中移出, 在常溫環(huán)境下恢復(fù)至少4小時(shí),然后確認(rèn)其外觀(guān)和電氣性能有無(wú)異常。
五、注意事項(xiàng)：
(1). 產(chǎn)品試驗(yàn)期間與試驗(yàn)后,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象；
(2). 試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻測(cè)試需符合規(guī)格書(shū)要求。
25.低溫儲(chǔ)存測(cè)試
一、目的：
測(cè)試低溫儲(chǔ)存環(huán)境對(duì)S.M.P.S. 的結(jié)構(gòu), 元件及整機(jī)電氣的影響, 用以考量S.M.P.S. 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及零件選用的合理性。
二. 使用儀器設(shè)備：
(1). AC SOURCE / 交流電源；
(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載；
(3). AC POWER METER / 功率表；
(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室；
(5). HI-POT TESTER / 高壓測(cè)試儀；
三. 測(cè)試條件：
儲(chǔ)存低溫條件: 通常為溫度-30℃, 試驗(yàn)時(shí)間24Hrs(非操作條件)。
四、測(cè)試方法：
(1). 試驗(yàn)前記錄待測(cè)品輸入功率, 輸出電壓及HI-POT 狀況；
(2). 將確認(rèn)后的待測(cè)品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi), 依規(guī)格設(shè)定其溫度,然后啟動(dòng)溫控室；
(3). 試驗(yàn)24Hrs, 試驗(yàn)結(jié)束后在空氣中放置至少4Hrs, 再將待測(cè)品做HI-POT 測(cè)試, 記錄測(cè)試結(jié)果, 之后確認(rèn)待測(cè)品的外觀(guān), 結(jié)構(gòu)及電氣性能是否有異常。
五、注意事項(xiàng)：
(1). 產(chǎn)品試驗(yàn)期間與試驗(yàn)后,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象；
(2). 試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻測(cè)試需符合規(guī)格書(shū)要求。
26. 低溫啟動(dòng)測(cè)試
一、目的：
測(cè)試低溫儲(chǔ)存環(huán)境對(duì)S.M.P.S. 的整機(jī)電氣的影響, 用以考量S.M.P.S. 電氣及零件選用的合理性。
二. 使用儀器設(shè)備：
(1). AC SOURCE / 交流電源；
(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;
(3). AC POWER METER / 功率表;
(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室。
三. 測(cè)試條件：
儲(chǔ)存低溫條件: 通常為操作溫度0℃ 條件下降低到-10 ±2℃, 儲(chǔ)存時(shí)間至少4Hrs。
四、測(cè)試方法：
(1). 試驗(yàn)前記錄待測(cè)品輸入功率, 輸出電壓及HI-POT 狀況；
(2). 將確認(rèn)后的待測(cè)品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi), 依規(guī)格設(shè)定其溫度,然后啟動(dòng)溫控室；
(3). 試驗(yàn)溫度儲(chǔ)存至少4Hrs, 然后分別在115Vac/60Hz & 230Vac/50Hz和輸出最大負(fù)載條件下開(kāi)關(guān)機(jī)各20 次, 確認(rèn)待測(cè)品電氣性能是否正常。
五、注意事項(xiàng)：
(1). 在產(chǎn)品性能測(cè)試期間或測(cè)試之后,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象；
(2). 設(shè)定的環(huán)境溫度為操作低溫的溫度再降-10度。
27. 溫度循環(huán)測(cè)試
一、目的：
測(cè)試針對(duì)S.M.P.S. 所有組成零件的加速性測(cè)試, 用來(lái)顯露出在實(shí)際操作中所可能出現(xiàn)的問(wèn)題。
二. 使用儀器設(shè)備：
(1). AC SOURCE / 交流電源；
(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載；
(3). AC POWER METER / 功率表；
(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室；
(5). HI-POT TESTER / 高壓測(cè)試儀。
三. 測(cè)試條件：
操作溫度條件: 通常為低溫度-40 ℃ 、25℃、33℃和高溫度66 ℃(濕度: 50-90%), 試驗(yàn)至少24個(gè)循環(huán)。
四、測(cè)試方法：
(1). 試驗(yàn)前記錄待測(cè)品輸入功率, 輸出電壓及HI-POT 狀況；
(2). 將確認(rèn)后的待測(cè)品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi), 以無(wú)包裝,非操作狀態(tài)下；
(3). 設(shè)定溫度順序?yàn)?6±2 ℃保持1小時(shí), 33±2 ℃和濕度90±2%保持1小時(shí), -40±2 ℃保持1小時(shí), 25±2 ℃和濕度50±2%保持30分鐘,為一個(gè)循環(huán)；
(4). 啟動(dòng)恒溫恒濕機(jī), 然后記錄其溫度與時(shí)間的圖形, 監(jiān)視系統(tǒng)所記錄的過(guò)程；
(5). 試驗(yàn)完成后, 溫度回到室溫再將待測(cè)物從恒溫恒濕機(jī)中移出, 放置樣品在空氣中4Hr 再確認(rèn)外觀(guān), 結(jié)構(gòu)及電氣性能是否有異常。
五、注意事項(xiàng)：
(1). 經(jīng)過(guò)冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的性能與外觀(guān)不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象；
(2). 經(jīng)過(guò)冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻應(yīng)符合規(guī)格書(shū)要求。
28. 冷熱沖擊測(cè)試
一、目的：
測(cè)試高, 低溫度沖擊對(duì)S.M.P.S. 的影響,用來(lái)揭露各組成元件的弱點(diǎn)。
二. 使用儀器設(shè)備：
(1). AC SOURCE / 交流電源；
(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載；
(3). AC POWER METER / 功率表；
(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室；
(5). HI-POT TESTER / 高壓測(cè)試儀。
三. 測(cè)試條件：
(1). 依SPEC. 要求: 儲(chǔ)存最高(70℃), 低溫度(-30℃), 測(cè)試共10 個(gè)循環(huán), 高低溫轉(zhuǎn)換時(shí)間為<2min；
(2). 依客戶(hù)所提供的試驗(yàn)條件。
四、測(cè)試方法：
(1). 在溫控室內(nèi)待測(cè)品由常溫25 ℃向低溫通常為-30 ℃轉(zhuǎn)變,并低溫烘烤1Hr；
(2). 溫控室由低溫-30 ℃向高溫通常為70 ℃轉(zhuǎn)變,轉(zhuǎn)變時(shí)間為2min., 并高溫烘烤1Hr；
(3). 在高溫70 ℃ 和低溫-30 ℃ 之間循環(huán)10 個(gè)周期后, 溫度回到常溫將S.M.P.S. 取出(至少恢復(fù)4小時(shí))；
(4). 確認(rèn)待測(cè)品的標(biāo)簽、外殼、耐壓和電氣性能有無(wú)與測(cè)試前的差異。
五、注意事項(xiàng)：
(1). 經(jīng)過(guò)冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的性能與外觀(guān)不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象；
(2). 經(jīng)過(guò)冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻應(yīng)符合規(guī)格書(shū)要求；
(3). 產(chǎn)品為非操作條件。
29. 絕緣耐壓測(cè)試
一、目的：
測(cè)試S.M.P.S. 在規(guī)格耐壓和時(shí)間條件下, 是否產(chǎn)生電弧ARCING, 其CUT OFF CURRENT 是否滿(mǎn)足SPEC. 要求, 及是否會(huì)對(duì)S.M.P.S.造成損傷。
二. 使用儀器設(shè)備：
(1). AC SOURCE / 交流電源；
(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載；
(3). AC POWER METER / 功率表；
(4). HI-POT TESTER / 高壓測(cè)試儀。
三. 測(cè)試條件：
依SPEC. 要求: 耐壓值(4242Vdc / 3000Vac)、操作時(shí)間(1 minute)和CUT OFF CURRENT(3.5mA) 值。
四、測(cè)試方法：
(1). 依SPEC. 設(shè)定好耐壓WITHSTANDING VOLTAGE, 操作時(shí)間TIME, CUT OFF CURRENT 值；
(2). 將待測(cè)品與耐壓測(cè)試儀依要求連接, 進(jìn)行耐壓測(cè)試, 觀(guān)察是否有產(chǎn)生電弧ARCING, 及漏電流CUT OFF CURRENT 是否過(guò)大；
(3). 耐壓測(cè)試后, 確認(rèn)待測(cè)品輸入功率與輸出電壓是否正常。
五、注意事項(xiàng)：
(1). 測(cè)試前應(yīng)先設(shè)定好耐壓測(cè)試儀的測(cè)試條件, 待測(cè)品的輸入與輸出分別應(yīng)與測(cè)試儀接觸良好；
(2). 耐壓的規(guī)格值設(shè)定參考安規(guī)要求。
30. 跌落測(cè)試
一、目的：
了解S.M.P.S. 由一定高度, 不同面進(jìn)行跌落DROP, 其結(jié)構(gòu), 電氣等特性的變化狀況。
二. 使用儀器設(shè)備：
(1). AC SOURCE / 交流電源；
(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載；
(3). AC POWER METER / 功率表；
(4). HI-POT TESTER / 高壓測(cè)試儀。
三. 測(cè)試條件：
依SPEC. 要求: 規(guī)定的跌落高度、跌落次數(shù)和剛硬的水平面。
四、測(cè)試方法：
(1). 所有待測(cè)品需先經(jīng)過(guò)電氣上的測(cè)試及目視檢查，以保證測(cè)試前沒(méi)任何可見(jiàn)的損壞存在；
(2). 確定六個(gè)面(小-大)順序依次進(jìn)行跌落；
(3). 使待測(cè)品由規(guī)定的高度及項(xiàng)(2) 所確定的測(cè)試點(diǎn)各進(jìn)行一次跌落, 每跌落一次均須對(duì)其電氣及絕緣等進(jìn)行確認(rèn),記錄正?；虍惓＝Y(jié)果。
31.絕緣阻抗測(cè)試
一、目的：
測(cè)量待測(cè)物帶電部件與輸出電路之間和帶電部件與膠殼之間的絕緣阻抗值。
二. 使用儀器設(shè)備：
(1). AC SOURCE / 交流電源；
(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載；
(3). AC POWER METER / 功率表；
(4). HI-POT TESTER / 高壓測(cè)試儀。
三. 測(cè)試條件：
(1). 依SPEC. 要求: 施加500V直流電壓后進(jìn)行測(cè)試的絕緣阻抗值要高10MOhm(常規(guī)定義)。
四、測(cè)試方法：
(1). 確認(rèn)好電氣性能后, 在絕緣阻抗測(cè)試儀中設(shè)定好施加的電壓(500Vdc)和測(cè)試的時(shí)間(1 Minute)；
(2). 將待測(cè)物輸入端和輸出端分別短路連接, 然后分別連接測(cè)試儀對(duì)應(yīng)端進(jìn)行測(cè)試；
(3). 再將待測(cè)物輸入端和外殼之間分別與測(cè)試儀對(duì)應(yīng)端連接進(jìn)行測(cè)試；
(4). 確認(rèn)待測(cè)物的測(cè)試絕緣阻抗值是否高于SPEC.要求值10MOhm。
五、注意事項(xiàng)：
(1). 阻抗要求值依安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)要求定義。
32. 額定電壓輸出電流測(cè)試
一、目的：
測(cè)試S.M.P.S. 在AC LINE 及OUTPUT VOLT. 一定時(shí), 其輸出電流值。
二. 使用儀器設(shè)備：
(1). AC SOURCE / 交流電源；
(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載。
三. 測(cè)試條件：
四、測(cè)試方法：
(1). 固定輸入電壓與頻率,依條件設(shè)定CV 模式下的輸出電壓；
(2). 開(kāi)機(jī)后待輸出穩(wěn)定時(shí)記錄輸出電流值；
(3). 切換輸入電壓與頻率,記錄不同輸入電壓時(shí)的輸出電流值；
(4). 在輸出電壓值不同條件下分別記錄輸出電流值。
五、注意事項(xiàng)：
記錄輸出電流值前待測(cè)品電流值需穩(wěn)定。
本文轉(zhuǎn)載自電源研發(fā)精英圈公眾號(hào)。
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