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如何最大程度降低開關(guān)電源中的寄生參數(shù)

發(fā)布時間:2024-03-20 責任編輯:lina

【導讀】開關(guān)模式電源(開關(guān)電源)因其高效性和靈活性而廣受歡迎。但它們也帶來了挑戰(zhàn),因為其應用已經(jīng)延伸到新的領(lǐng)域。最明顯的是,其高頻切換會對系統(tǒng)的其他部分產(chǎn)生電磁干擾 (EMI)。此外,導致 EMI 的因素同樣也會降低效率,從而削弱開關(guān)電源關(guān)鍵的能效優(yōu)勢。


開關(guān)模式電源(開關(guān)電源)因其高效性和靈活性而廣受歡迎。但它們也帶來了挑戰(zhàn),因為其應用已經(jīng)延伸到新的領(lǐng)域。最明顯的是,其高頻切換會對系統(tǒng)的其他部分產(chǎn)生電磁干擾 (EMI)。此外,導致 EMI 的因素同樣也會降低效率,從而削弱開關(guān)電源關(guān)鍵的能效優(yōu)勢。

為了避免這些問題,設(shè)計人員在配置“熱回路”(電源電路中發(fā)生快速開關(guān)的部分)時必須特別小心。將等效串聯(lián)電阻 (ESR) 和等效串聯(lián)電感 (ESL) 造成的熱回路寄生損耗降至最低至關(guān)重要。這可以通過選擇高度集成的電源元件和精心設(shè)計的印刷電路板(PC 板)布局來實現(xiàn)。

本文將介紹熱回路和寄生損耗來源,具體包括耦合電容器、功率場效應晶體管 (FET) 和電路板過孔等。然后會展示 Analog Devices 的高集成度電源轉(zhuǎn)換器實例,并介紹各種電路板布局及其對寄生參數(shù)的影響。最后還介紹了降低 ESR 和 ESL 的實用技巧。

開關(guān)電源熱回路基本原理

任何涉及快速開關(guān)電流的電源設(shè)計,如升壓、降壓升壓和反激式轉(zhuǎn)換器,都會出現(xiàn)高頻開關(guān)電流熱回路。這個概念可以通過一個簡化的降壓轉(zhuǎn)換器來說明(圖 1)。左側(cè)的回路(紅色)包含所有開關(guān)元件;電路產(chǎn)生的高頻電流包含在其中,并形成熱回路。


如何最大程度降低開關(guān)電源中的寄生參數(shù)圖 1:一個簡化的降壓轉(zhuǎn)換器說明了熱回路(紅框)的原理。(圖片來源:Analog Devices)


“熱”是因為電路的這一區(qū)域進行著大量的能量轉(zhuǎn)換和開關(guān)活動,而這些活動往往伴隨著熱量的產(chǎn)生。對這些熱回路進行合理布局和設(shè)計對于最大限度地減少 EMI 和確保電源的高效運行至關(guān)重要。

圖 2 中更為現(xiàn)實的電路是一個 DC-DC 同步降壓轉(zhuǎn)換器。在這個熱回路中,物理元件(標為黑色)是輸入電容器 (CIN) 和開關(guān)金屬氧化物半導體場效應晶體管 (MOSFET)(M1 和 M2)。


如何最大程度降低開關(guān)電源中的寄生參數(shù)圖 2:真實世界的熱回路不可避免地包含寄生參數(shù)(以紅色顯示)。(圖片來源:Analog Devices)


熱回路中的寄生參數(shù)用紅色標出。ESL 通常在納亨 (nH) 范圍內(nèi),而 ESR 則在毫歐 (mΩ) 范圍內(nèi)。高頻開關(guān)會導致 ESL 內(nèi)產(chǎn)生瞬時振蕩,從而產(chǎn)生電磁干擾。儲存在 ESL 中的能量會被 ESR 消散,從而導致功率損耗。

利用集成元件可將寄生參數(shù)降至最低

這些寄生阻抗(ESR、ESL)會出現(xiàn)在元件內(nèi)部和熱回路電路板印制線上。為了盡量減少這些參數(shù),設(shè)計人員必須仔細選擇元件并優(yōu)化電路板布局。

實現(xiàn)這兩個目標的方法之一就是使用集成元件。這些集成元件消除了連接分立元件所需的電路板印制線,同時減少了熱回路的總面積。兩者都有助于減少寄生阻抗。

Analog Devices 的 LTM4638 降壓型 μModule 穩(wěn)壓器就是高集成度元件的一個極佳實例。如圖 3 所示,這款 15 安培 (A) 開關(guān)穩(wěn)壓器集成了開關(guān)控制器、功率 FET、電感器和支持元件,全部封裝在一個 6.25 × 6.25 × 5.02 毫米的微型封裝內(nèi)。


如何最大程度降低開關(guān)電源中的寄生參數(shù)圖 3:LTM4638 μModule 穩(wěn)壓器集成了降壓轉(zhuǎn)換器所需的許多元件。(圖片來源:Analog Devices)


LTM4638 還具有其他幾項功能,可減少寄生損耗。具體包括:

· 快速瞬態(tài)響應:這可以使穩(wěn)壓器根據(jù)負載或輸入的變化快速調(diào)整輸出電壓,并通過快速過渡到次優(yōu)工作狀態(tài),最大限度地縮短寄生損耗的持續(xù)時間并降低其影響。
· 斷續(xù)模式運行:這允許電感器電流在下一個開關(guān)周期開始前降至零。這種模式通常在輕負載條件下使用,通過在部分周期內(nèi)使電感器斷電,從而減少電感器的開關(guān)和鐵損。
· 輸出電壓跟蹤:這能夠讓轉(zhuǎn)換器輸出跟蹤參考輸入電壓。該功能通過精確控制輸出電壓的升降,降低了可能加劇寄生損耗的過沖或欠沖的可能性。

通過元件布局將寄生參數(shù)降至最低

使用 LTM4638 構(gòu)建同步降壓轉(zhuǎn)換器需要分別添加散裝的輸入和輸出電容器 CIN 和 COUT。這些電容器的位置選擇會對寄生參數(shù)產(chǎn)生重大影響。

Analog Devices 使用針對 LTM4638 的 DC2665A-B 評估板進行的實驗說明了 CIN 位置選擇的影響。后來,DC2665B-B 取代了該評估板,但原理仍適用。圖 4 至圖 6 展示了 CIN 的三種不同布局和相應的熱回路。垂直熱回路 1(圖 4)和 2(圖 5)分別將 CIN 放在底層穩(wěn)壓器的正下方或側(cè)面。水平熱回路(圖 6)將電容器置于頂層。


如何最大程度降低開關(guān)電源中的寄生參數(shù)
圖 4:垂直熱回路 1 底視圖和側(cè)視圖。CIN 位于穩(wěn)壓器正下方,通過過孔連接。(圖片來源:Analog Devices)

如何最大程度降低開關(guān)電源中的寄生參數(shù)圖 5:垂直熱回路 2 底視圖和側(cè)視圖。CIN 位于穩(wěn)壓器下方,但在穩(wěn)壓器旁邊,需要電路板印制線和過孔。(圖片來源:Analog Devices)

如何最大程度降低開關(guān)電源中的寄生參數(shù)圖 6:水平熱回路俯視圖和側(cè)視圖。CIN 位于頂層,通過印制線與穩(wěn)壓器相連。(圖片來源:Analog Devices)


垂直熱回路 1 的路徑最短,可避免使用電路板印制線。因此,預計它的寄生參數(shù)最低。使用 FastHenry 以 600 kHz 和 200 兆赫茲 (MHz) 的頻率分析每個熱回路,結(jié)果顯示情況確實如此(圖 7)。


如何最大程度降低開關(guān)電源中的寄生參數(shù)圖 7:不出所料,最短路徑的寄生阻抗最低。(圖片來源:Analog Devices,由作者修改)


雖然我們無法直接測量這些寄生參數(shù),但可以預測和測試它們的影響。具體來說,ESR 越低,效率越高,ESL 越低,紋波越小。實驗驗證證實了這些預測,垂直熱回路 1 在這兩項指標上都有更好的表現(xiàn)(圖 8)。


如何最大程度降低開關(guān)電源中的寄生參數(shù)圖 8:實驗結(jié)果證實,垂直熱回路 1 實現(xiàn)了更好的效率和紋波。(圖片來源:Analog Devices)


最小化分立元件的寄生參數(shù)

雖然集成器件具有許多優(yōu)勢,但某些開關(guān)電源仍需要分立元件。例如,大功率應用可能會超出集成設(shè)備的能力。在這種情況下,分立功率 FET 的位置和封裝尺寸都會對熱回路 ESR 和 ESL 產(chǎn)生重大影響。如圖 9 所示,通過測試兩塊評估板可以看出這些影響,這兩塊評估板都采用了高效的 4 開關(guān)同步降壓升壓控制器:

· DC2825A 評估板基于 LT8390 降壓升壓穩(wěn)壓器。其 MOSFET 平行放置,方向相同。
· DC2626A 評估板基于 LT8392 降壓升壓穩(wěn)壓器。兩對 MOSFET 成 90? 角放置。


如何最大程度降低開關(guān)電源中的寄生參數(shù)圖 9:DC2825A(左)將 MOSFET 平行放置,而 DC2626A(右)將 MOSFET 以 90? 角垂直放置。(圖片來源:Analog Devices)


這兩塊電路板使用相同的 MOSFET 和電容器進行測試,在 10 A 和 300 千赫茲 (kHz) 頻率下進行 36 至 12 伏的降壓操作。結(jié)果表明,90? 放置的電壓紋波更低,諧振頻率更高,表示由于熱回路徑更短,PC 板 ESL 更?。▓D 10)。


如何最大程度降低開關(guān)電源中的寄生參數(shù)圖 10:采用 90? MOSFET 布局的 DC2626A 具有更低的紋波和更高的諧振頻率。(圖片來源:Analog Devices)


其他布局考慮因素

在熱回路中采用頂部 FormVVia 布置也會影響回路 ESR 和 ESL。一般來說,增加過孔可以降低電路板的寄生阻抗。不過,這種減少與過孔數(shù)量并不成正比。過孔靠端子焊盤近一些可顯著降低 ESR 和 ESL。因此,應在靠近關(guān)鍵元件(CIN 和 μModule 或 MOSFET)焊盤的地方放置多個過孔,以盡量減小熱回路阻抗。

還有許多其他方法可以對電氣和熱性能產(chǎn)生積極影響。優(yōu)化熱回路的最佳做法包括:

· 在大電流通路(包括VIN、VOUT 和接地)上使用大面積的電路板銅,以盡量減少電路板傳導損耗和熱應力。
· 在單元下方放置專用的電源接地層。
· 在頂層和其他功率層之間使用多個過孔進行互連,以盡量減少傳導損耗,并降低模塊熱應力。
· 不要將過孔直接放在焊盤上,除非對其進行封蓋或電鍍。
· 對于連接到信號引腳的組件,應使用獨立的信號接地銅區(qū),將信號接地連接到單元下方的主接地引腳。
· 在信號引腳上引入測試點進行監(jiān)測。
· 保持時鐘信號與頻率輸入印制線之間的距離,以盡量減少串擾造成噪聲的可能性。

結(jié)語

熱回路中的寄生參數(shù)會嚴重影響開關(guān)電源的性能。盡量減少這些參數(shù)對于實現(xiàn)高效率和低 EMI 至關(guān)重要。

實現(xiàn)這些目標的最簡單方法之一就是使用集成穩(wěn)壓器模塊。不過,開關(guān)電源通常需要使用電容器等散裝元件,因此必須了解熱回路布局的影響。

(作者:Kenton Williston)


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