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示波器測(cè)量準(zhǔn)確度問題探討及力科12位ADC高精度示波器的應(yīng)用
——力科第三屆“精品工程”系列網(wǎng)絡(luò)視頻講座會(huì)系列之四
發(fā)布時(shí)間:2011-07-22 來源:美國(guó)力科公司(LeCroy)
時(shí)間:2011年7月26日 10:00 - 12:00
本次研討會(huì)我們將討論影響示波器測(cè)量準(zhǔn)確度的一系列因素:半導(dǎo)體器件本身的影響因素如DC增益,偏置,非線性度,頻響曲線的線性度,通道之間的匹配,量化誤差等; 測(cè)試環(huán)境特別是探頭的因素,如探頭的地線,探頭的負(fù)載效應(yīng),探頭擺放的位置,地環(huán)路的干擾等以及算法本身的影響因素。這些影響因素中,最關(guān)鍵的也是最大的一個(gè)影響因素是量化誤差。 力科的WaveRunner HRO 6Zi 12位ADC的高精度示波器能夠減小量化誤差的影響,提供更高的信噪比,更大的動(dòng)態(tài)范圍,給測(cè)量帶來更高的測(cè)量準(zhǔn)確度,因此在一系列的應(yīng)用中帶來了獨(dú)特的價(jià)值,如小電壓信號(hào)的測(cè)量,大電壓信號(hào)中的局部小信號(hào)測(cè)量,更精確的FFT測(cè)量,相位噪聲測(cè)量等。
通過本次研討會(huì),您不僅可以了解到那些因素會(huì)影響到示波器的測(cè)量精度,同時(shí)您也將了解到示波器業(yè)內(nèi)唯一具有12位ADC的高精度實(shí)時(shí)數(shù)字示波器--力科的WaveRunner HRO 6Zi的測(cè)量精確度以及其在傳感器系統(tǒng)、醫(yī)療系統(tǒng)、射頻調(diào)制系統(tǒng)、電源測(cè)量系統(tǒng)中的應(yīng)用。
歡迎您的參與!舉辦網(wǎng)址:http://webcast.ednchina.com/529/Content.aspx
本次研討會(huì)我們將討論影響示波器測(cè)量準(zhǔn)確度的一系列因素:半導(dǎo)體器件本身的影響因素如DC增益,偏置,非線性度,頻響曲線的線性度,通道之間的匹配,量化誤差等; 測(cè)試環(huán)境特別是探頭的因素,如探頭的地線,探頭的負(fù)載效應(yīng),探頭擺放的位置,地環(huán)路的干擾等以及算法本身的影響因素。這些影響因素中,最關(guān)鍵的也是最大的一個(gè)影響因素是量化誤差。 力科的WaveRunner HRO 6Zi 12位ADC的高精度示波器能夠減小量化誤差的影響,提供更高的信噪比,更大的動(dòng)態(tài)范圍,給測(cè)量帶來更高的測(cè)量準(zhǔn)確度,因此在一系列的應(yīng)用中帶來了獨(dú)特的價(jià)值,如小電壓信號(hào)的測(cè)量,大電壓信號(hào)中的局部小信號(hào)測(cè)量,更精確的FFT測(cè)量,相位噪聲測(cè)量等。
通過本次研討會(huì),您不僅可以了解到那些因素會(huì)影響到示波器的測(cè)量精度,同時(shí)您也將了解到示波器業(yè)內(nèi)唯一具有12位ADC的高精度實(shí)時(shí)數(shù)字示波器--力科的WaveRunner HRO 6Zi的測(cè)量精確度以及其在傳感器系統(tǒng)、醫(yī)療系統(tǒng)、射頻調(diào)制系統(tǒng)、電源測(cè)量系統(tǒng)中的應(yīng)用。
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